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效果圖描述：低溫和高溫真空探針臺SEMISHARE真空環(huán)境高低溫測試技術(shù)以下兩個應用需要真空測試環(huán)境。極低溫測試:因為晶圓在低溫大氣環(huán)境測試時，空氣中的水汽會凝結(jié)在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測...... [詳情] 更多關(guān)于測試高低溫真空探針臺圖片相關(guān)信息 標簽：測試高低溫真空探針臺圖片   測試高低溫真空探針臺樣板圖  

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