反射率檢測(cè)應(yīng)用,反射率檢測(cè),反射率檢測(cè)儀

廣州景頤光電科技有限公司集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)一體化，光譜反射率檢測(cè)，擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，反射率檢測(cè)應(yīng)用，能夠?yàn)榭蛻籼峁┫到y(tǒng)化的光譜儀器定制化服務(wù)和完善的售后服務(wù)體系，秉承以客戶需求為核心，以持續(xù)技術(shù)創(chuàng)新為導(dǎo)向，以“科技創(chuàng)新  真誠(chéng)服務(wù)”為口號(hào)，不斷增強(qiáng)創(chuàng)新能力，不斷為客戶創(chuàng)造價(jià)值。

公司現(xiàn)擁有的產(chǎn)品有：光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x，光譜儀，積分球，反射率檢測(cè)，反射率檢測(cè)儀，激光器測(cè)試儀等光學(xué)檢測(cè)儀器。 其中反射率檢測(cè)儀系列有：反射率測(cè)試儀、便攜式反射率測(cè)量?jī)x、微型反射率檢測(cè)儀、光譜反射率測(cè)試儀等。

反射比測(cè)量原理

是一款方便實(shí)用的絨面拋光面硅片反射率測(cè)試儀器，反射率檢測(cè)，系統(tǒng)使用簡(jiǎn)單，無(wú)需操作人員有專業(yè)的技能用戶可以在移動(dòng)的硅片上進(jìn)行連續(xù)性測(cè)量，也可以測(cè)量硅片上的固定點(diǎn)。可自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，用戶可自定義反射率值，最小值門限設(shè)置?？勺远x測(cè)量波長(zhǎng)范圍，儀器配備標(biāo)準(zhǔn)參考片。

測(cè)量參數(shù)        反射率光譜 / 膜厚 / 顏色

反射率范圍      0 ~ 100 %

波長(zhǎng)范圍       200 ~ 1100 nm

反射率精度      ±0.1 %

反射率重復(fù)性*   <0.05%

顏色測(cè)量        XYZ

　　廣州景頤光電科技有限公司立志成為中國(guó)光電行業(yè)的企業(yè)。為國(guó)內(nèi)科研單位和工業(yè)客戶提供、高性價(jià)比的光電產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)。隨著光譜行業(yè)的快速發(fā)展，未來(lái)，景頤光電將繼續(xù)致力于光譜儀器的研究，通過(guò)不懈努力與追求，譜寫更加輝煌的篇章，迎接光譜領(lǐng)域日新月異的挑戰(zhàn)。

公司現(xiàn)擁有的產(chǎn)品有：光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x，光譜儀，積分球，反射率檢測(cè)儀，激光器測(cè)試儀等光學(xué)檢測(cè)儀器。 其中反射率檢測(cè)儀系列有：反射率測(cè)試儀、便攜式反射率測(cè)定儀、微型反射率檢測(cè)儀、光譜反射率測(cè)試儀等。

反射比測(cè)量原理

光源發(fā)出的光通過(guò)光纖和反射式積分球(InterSphere)在物體表面發(fā)生漫反射被特別設(shè)計(jì)的積分器收集，再通過(guò)積分球另外的一個(gè)接口送到分光光度計(jì)。不管樣品表面是絨面還是拋光的，所有的反射光和散射光都會(huì)被測(cè)量到。整體反射率用來(lái)測(cè)量制絨后和鍍膜后硅片的反射率。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)邏輯運(yùn)算計(jì)算出您想要的顏色值xyY等

測(cè)量步驟，先收集外部環(huán)境光的光強(qiáng)，再將標(biāo)準(zhǔn)片置于積分球的采樣口測(cè)量存為參考，最后將待測(cè)樣品置于采樣口測(cè)量，軟件會(huì)自動(dòng)計(jì)算出反射比R%.