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34 1.塑料薄膜厚度公差 、塑料薄膜出廠前 ,厚度公差都要經(jīng)過兩次檢測 ,第x一次是在薄膜生產(chǎn)過程中,利用放射性同位素或X射線等測厚儀進(jìn)行在線檢測。這種檢測目的是在薄膜生成過程中及時控制薄膜的厚度 ,不作為最終產(chǎn)品厚度檢測儀器。檢測的結(jié)果是代表薄膜上一個小區(qū)域的厚度平均值 ,其精度較差。第二次是在薄膜出廠前 ,南京塑料袋,利用光電測厚儀來檢測薄膜的厚度公差。其結(jié)果代表薄膜的實(shí)際厚度值。光電測厚法是利用誤差≤±0.2um的測試儀器進(jìn)行檢測。薄膜放在磨光的平臺上 ,在直徑≥2mm的 測量頭下 ,使 用 0.1~0.5N的 接觸壓力 ,目測薄膜的厚度。然后進(jìn)行厚度計(jì)算 ,pe塑料袋廠,計(jì)算公式如下 :平均厚度偏差 (%)=± 平均厚度一公稱厚度 ×100(6-11) ,厚度偏差 (%)=極限厚度一公稱厚度 ×100(6-12)
式中公稱厚度—— 名義厚度 ; 平均厚度—— 勿個厚度測量值的算術(shù)平均值 ;極限厚度—— 公稱厚度絕x對值。這種方法中 ,通常是用單層薄膜進(jìn)行測量 ,顯示薄膜實(shí)際厚度值。











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