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材料分析表征中的應(yīng)用
紅外光譜分析可用于研究分子的結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵,也可以作為表征和鑒別化學(xué)物種的方法。紅外光譜具有高度特征性,可以采用與標(biāo)準(zhǔn)化合物的紅外光譜對(duì)比的方法來(lái)做分析鑒定。[ZC4] 之所以能測(cè)試樣品的這些性能,是因?yàn)榧t外光譜分析法是根據(jù)不同物質(zhì)會(huì)選擇性吸收紅外光區(qū)的電磁輻射來(lái)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析、對(duì)各種吸收紅外光的化合物進(jìn)行定量和定性分析的一種方法。

光電直讀光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高,光譜儀廠家,但測(cè)定試樣中元素含量時(shí),所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致,湖北光譜儀,存在一定誤差,金屬分析儀,并且受諸多因素的影響,有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類、來(lái)源及如何避免誤差進(jìn)行分析。
根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因,誤差可分為系統(tǒng)誤差、偶然誤差、過(guò)失誤差及其他誤差等。
1.系統(tǒng)誤差的來(lái)源
?。?)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí),手持式光譜儀哪家好,可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變,從而引入誤差。
?。?)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí),激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
?。?)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí),測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。
?。?)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí),混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差
(5)要系統(tǒng)誤差,必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差,就需要采用化學(xué)分析方分析多次校對(duì)結(jié)果。


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