雙通道局部放電檢測儀,局部放電檢測儀,源創(chuàng)電力

局部放電局部放電測試目的和意義

局部放電是指發(fā)生在電極之間但并未貫穿電極的放電，它是由于設(shè)備絕緣內(nèi)部存在弱點(diǎn)或生產(chǎn)過程中造成的缺陷，在高電場強(qiáng)度作用下發(fā)生重復(fù)擊穿和熄滅的現(xiàn)象。它表現(xiàn)為絕緣內(nèi)氣體的擊穿，小范圍內(nèi)固體或液體介質(zhì)的局部擊穿或金屬表面的邊緣及尖角部位場強(qiáng)集中引起的局部擊穿放電等。

這種放電的能量是很小的，所以它的短時(shí)存在并不影響到電氣設(shè)備的絕緣強(qiáng)度。但若電氣設(shè)備在運(yùn)行電壓下不斷出現(xiàn)局部放電，這些微弱的放電將長生積累效應(yīng)會使絕緣的介電性能逐漸劣化并使局部缺陷擴(kuò)大，數(shù)字式局部放電檢測儀，最后導(dǎo)致整個絕緣擊穿，雖然局部放電會使絕緣劣化而導(dǎo)致?lián)p壞，但它的發(fā)展是需要一定時(shí)間，雙通道局部放電檢測儀，所以需定期測局部放電。

局部放電測試儀名詞術(shù)語解釋

1．局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極尖端）。

2． 電荷量q

在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3． 視在放電量校準(zhǔn)器

視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗(yàn)時(shí)測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。

校正電量發(fā)生器是測量局部放電時(shí)必備的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，超聲波局部放電檢測儀，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。

4．檢測阻抗

檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，局部放電檢測儀，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

檢測阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號。（見表1）

5．時(shí)間窗(門單元)

時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場做試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要。

時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分，通過改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域)，此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。