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IC 對于離散晶體管有兩個主要優(yōu)勢：成本和性能。成本低是由于芯片把所有的組件通過照相平版技術(shù)，作為一個單位印刷，而不是在一個時間只制作一個晶體管。性能高是由于組件快速開關(guān)，消耗更低能量，因為組件很小且彼此靠近。2006年，芯片面積從幾平方毫米到350 mm2，每mm2可以達(dá)到一百萬個晶體管。

第1個集成電路雛形是由杰克·基爾比于1958年完成的，其中包括一個雙極性晶體管，三個電阻和一個電容器。

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集成電子電路檢測常識：

測試避免造成引腳間短路

電壓測量或用示波器探頭測試波形時，避免造成引腳間短路，最z好在與引腳直接連通的外圍印刷電路上進(jìn)行測量。任何瞬間的短路都容易損壞集成電路，IC設(shè)計公司，尤其在測試扁平型封裝的CMOS集成電路時更要加倍小心。

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集成電路設(shè)計行業(yè)研究：

近年來，我國集成電路產(chǎn)業(yè)規(guī)模連年擴大，國內(nèi)微電子銷售額占國際市場的份額從2005年的7.13%增至2012年的19.66%，2013突破20%關(guān)口。與此同時，我國集成電路芯片80%以上依賴進(jìn)口，成為第1大芯片進(jìn)口國。

      雖然我國目前簡單勞動力紅利逐漸枯竭，各地出現(xiàn)“ 招工難現(xiàn)象” ，但對于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)用工素質(zhì)相對高1端的情況下，我國當(dāng)前的“ 工程師紅利” 優(yōu)勢較明顯。