低溫試驗報告|第三方檢測機構(gòu)|本溪低溫試驗
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摘要:針對微機械慣性導(dǎo)航系統(tǒng)的儲存壽命進(jìn)行了加速壽命試驗分析。介紹了MEMS慣導(dǎo)的特性及主要指標(biāo)。依據(jù)加速壽命試驗的基本理論，結(jié)合MEMS慣導(dǎo)中的關(guān)鍵器件特性，對加速應(yīng)力、應(yīng)力水平及加速模型進(jìn)行了選取，制定了試驗方案;同時，低溫試驗報告，提出了該試驗方案下威布爾分布數(shù)據(jù)的分析方法，從而可估算出產(chǎn)品的壽命。
:MEMS慣導(dǎo);加速壽命;恒定溫度應(yīng)力加速;加速模型
亞標(biāo)檢測可以提供以下試驗項目：
★機械可靠性試驗 □振動試驗|機械沖擊|碰撞試驗|疲勞試驗|強度試驗|跌落試驗
★環(huán)境可靠性試驗 □高低溫存儲|恒溫恒濕|交變濕熱|冷熱沖擊|快速溫變|溫濕度組合|鹽霧試驗|氣體腐蝕|高溫老化|紫外輻照|氙燈輻照|碳弧燈輻照|鹵素?zé)糨椪諀臭氧老化|高壓蒸煮|低溫低氣壓|三綜合試驗|高加速壽命|高加速應(yīng)力篩選|沙塵試驗|防水試驗
MEMS加速度計和MEMS陀螺均是MEMS器件，低溫試驗價格，MEMS器件的預(yù)期壽命與典型的電子器件相類似。在可靠性試驗中，運用溫度、電壓及頻率性操作是對失效的最有1效加速因子。其中，在加速壽命試驗中用溫度作
為加速應(yīng)力是常見的，因為高溫能使產(chǎn)品如電子元器件、絕緣材料等內(nèi)部加快化學(xué)反映，促使產(chǎn)品提前失效。
本試驗對象的關(guān)鍵部件是MEMS加速度和MEMS陀螺，它們的特點是全固態(tài)，本溪低溫試驗，沒有旋轉(zhuǎn)部件和摩擦部件，其薄弱環(huán)節(jié)是電子器件，敏感應(yīng)力是溫度。產(chǎn)品儲存壽命一般用溫度應(yīng)力來加速壽命，產(chǎn)品的工作壽命一般用電壓來加速壽命。
我們擬選定溫度作為加速應(yīng)力進(jìn)行試驗。
2.3溫度應(yīng)力水平選取
在此次試驗之前本產(chǎn)品未進(jìn)行過加速壽命試驗
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