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光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,F(xiàn)E,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi),然后放入積分半球內(nèi)。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上(使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定)。Xe激發(fā)光(投光光纖)的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口(圖上顯示)來進行確認。請將激發(fā)波長設置到可視光范圍內(nèi)確認。

半積分球。大塚電子獨有,提高積分球測試效率一倍,更易于樣品的裝夾,F(xiàn)E膜厚儀,切換迅速(范圍內(nèi)獨i家);(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨有,最i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯(范圍內(nèi)獨i家);(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(tǒng)(-30℃-300℃)
不銹鋼樣品池及高精度石英材質光學窗口,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于固體、粉末及薄膜樣品測試(數(shù)量5個),尺寸直徑≤10mm

