0805貼片電容 風(fēng)華_貼片電容_新晨陽

一般電容故障現(xiàn)象：電容開路、擊穿、漏電、通電后擊穿

 故障原因

 1、元器件開路

 電容器開路后，沒有電容器的作用。不同電路中的電容器出現(xiàn)開路故障后，電路的具體故障現(xiàn)象不同。如濾波電容開路后出現(xiàn)交流聲，耦合電容開路后無聲等。

2、元器件擊穿

 電容器擊穿后，失去電容器的作用，電容器兩根引腳之間為通路，電容器的隔直作用消失，電路的直流電路出現(xiàn)故障，從而影響交流工作狀態(tài)。

 電解電容器是固定電容器中的一種，它的故障特征與固定電容故障特征有許多相似之處，由于電解電容器的特殊性，1206貼片電容 風(fēng)華，電解電容器的故障特征又有許多不同之處。在電路中，貼片電容，電解電容器的故障率較高。

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貼片電容容值偏低？怎么解決？

1、量測儀器差異對(duì)量測結(jié)果的影響對(duì)策：

在測量貼片電容容值時(shí)將儀器調(diào)校并將儀器的設(shè)定電壓與實(shí)際加在產(chǎn)品兩端所測電壓盡量調(diào)整，使實(shí)際加載在待測物上的電壓和輸出電壓一致。

2、測試條件對(duì)量測結(jié)果的影響的對(duì)策：

對(duì)于不同容值的貼片電容會(huì)采用不同的測試電壓和測試頻率來量測其容值。

3、量測環(huán)境條件對(duì)量測結(jié)果的影響的解決對(duì)策：

將產(chǎn)品放置在20℃的環(huán)境下一段時(shí)間，使材料在較穩(wěn)定的測試環(huán)境下再進(jìn)行測試。

4、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象的解決對(duì)策：

高溫烘烤：將測試容量偏低的產(chǎn)品放置在環(huán)境溫度為：150℃條件下烘烤1hour。然后在常溫25℃下放置24小時(shí)，再行測試，容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)；

或者將測試容量偏低的產(chǎn)品浸至錫爐或過回流焊后，再進(jìn)行測試，0805貼片電容 風(fēng)華，容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)。

 很多客戶買到貼片電容回去測試以后發(fā)現(xiàn)貼片電容的容值就有偏低的現(xiàn)象，0603 104貼片電容，這時(shí)可能會(huì)會(huì)認(rèn)為我們存在欺騙買家的行為，其實(shí)不是的。下面我們來分析一下貼片電容的容值為什么會(huì)偏低？導(dǎo)致貼片電容偏低的因素有什么？下面我們一起來分析一下。

  1. 測試條件對(duì)測量結(jié)果的影響

  對(duì)于貼片電容偏低的我們可以考慮一下測試條件對(duì)貼片電容容值的影響。對(duì)于不同容值的貼片電容需要采用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設(shè)定和測試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，貼片電容不同容值的測試條件為：

  電容AC電壓頻率

  容量＞10uF 1.0±0.2Vrms 120Hz

  1000pF＜容量≤10uF 1.0±0.2Vrms 1KHz

  容量≤1000pF 1.0±0.2Vrms 1MHz

  2. 測量儀器的差異對(duì)測量結(jié)果的影響

  大容量的電容（指1uF以上的容值）測量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電壓兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測量結(jié)果誤差降，我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測的電壓盡量調(diào)整，使實(shí)際于待測電容上輸出的電壓一致。