江蘇一六儀器有限公司(圖)_膜厚分析儀_山東測(cè)厚儀

   膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，膜厚分析儀，分為手持式和臺(tái)式二種，鍍銀測(cè)厚儀，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，山東測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來(lái)了解下先：

  一、技術(shù)參數(shù)

  采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，國(guó)產(chǎn)測(cè)厚儀，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

  測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1測(cè)頭）

  示值精度：±（3％H+1）μm；H為被測(cè)涂層厚度

  顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

  存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組最多50個(gè)測(cè)量數(shù)值）測(cè)量數(shù)據(jù)

  單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）

  持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開(kāi)背光燈）

  通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊