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為什么膜厚儀有時測量不準(zhǔn)確?
人為因素。這種情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。膜厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化,并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體,使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時,xrf鍍層測厚儀,要先掌握好測量方法。

影響膜厚儀測量的的客觀因素
耦合劑對膜厚儀的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達到檢測目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng),鍍層測厚儀,將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍,無法測量。因根據(jù)使用情況選擇合適的種類,當(dāng)使用在光滑材料表面時,可以使用低粘度的耦合劑;當(dāng)使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時,應(yīng)使用粘度高的耦合劑。高溫工件應(yīng)選用高溫耦合劑。其次,耦合劑應(yīng)適量使用,電鍍層測厚儀,涂抹均勻,一般應(yīng)將耦合劑涂在被測材料的表面,但當(dāng)測量溫度較高時,耦合劑應(yīng)涂在探頭上。

