產(chǎn)品描述:傳統(tǒng)的光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種模式:采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制,很難滿足光傳遞功能連續(xù)掃描測(cè)試的需求;而后者盡管在性能上可以得到保障,但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和難以擴(kuò)展,也很難被用戶所接受。
產(chǎn)品名稱:全波段的光器件測(cè)試儀 光器件測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):DT606-MT9820A
產(chǎn)品說(shuō)明
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
傳統(tǒng)的光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種模式:采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制,很難滿足光傳遞功能連續(xù)掃描測(cè)試的需求;而后者盡管在性能上可以得到保障,但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和難以擴(kuò)展,也很難被用戶所接受。
MT9820A采用的設(shè)計(jì)理念,克服了兩種測(cè)試方法的缺點(diǎn),形成了業(yè)界最為綜合的、緊湊式的格的寬波長(zhǎng)范圍的光損耗測(cè)試方案,可進(jìn)行寬譜范圍內(nèi)的光器件和光模塊的的光功率、光波長(zhǎng)、光損耗和光的偏振測(cè)試。
主要特點(diǎn)
• 一套完整的具有革新性的應(yīng)用,可以為在大范圍內(nèi)進(jìn)行光損耗測(cè)試的客戶提供最為有價(jià)值的方案。
• 采用開放式的架構(gòu),支持市場(chǎng)上大多數(shù)的可調(diào)協(xié)激光源,可以充分利用目前已有的資源。
• 可以支持多達(dá)4個(gè)可調(diào)諧光源,支持多個(gè)可調(diào)諧光源的連續(xù)掃描。
• 快速和的測(cè)試,減少了自己搭建系統(tǒng)的不方便性(包括模式跳變、功率的平坦度、掃描速度和波長(zhǎng)的度等。
o 波長(zhǎng)精度為+/-5 pm,相對(duì)波長(zhǎng)精度為+/-1pm
o 波長(zhǎng)范圍:1250nm~1650nm
o 最小輸入功率:-60dBm; 輸入功率:0dBm
o 動(dòng)態(tài)范圍:>60dB
o 采樣速度:10~100nm/s
• 結(jié)構(gòu)緊湊,體積小 很好地滿足了現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試的需要
• 實(shí)時(shí)高性能, 不僅可以用于生產(chǎn)過(guò)程,而且可以用于光傳感器分析
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北京市測(cè)試儀
北京市測(cè)試儀廠家