價格: 電議
物流: 暫無物流地址| 買家支付運費
可銷售總量: 1000件
手機: 18994336605 郵箱: sales@16elite.com
傳真: 0512-57757039 地址: 江蘇
郵箱:
手機:
利用熒光X射線進行定量分析的時候,X-RAY測厚儀,大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法(經(jīng)驗系數(shù)法)。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品,尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系,以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線,光譜測厚儀,從而得到濃度值。
另一個方法是理論演算的基礎參數(shù)法(FP法)。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提,利用計算的各個熒光X射線強度的理論值,推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。









X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識,測厚儀,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài)。此時,其他的外層電子便會填補這一空位,即所謂的躍遷,同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。





