測厚儀|X射線熒光光譜儀|X-RAY測厚儀
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用轉移法測量塑膠產品上涂層時注意事項：
由于對塑膠產品上涂層的測量，如使用超聲波發(fā)測量時，經常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒有較好的聲波反射面，從而導致測量失敗或讀值嚴重偏差。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數困難的地方。所以目前便攜式電子產品生產廠普遍使用轉移法測量塑膠產品上涂層，先在產品上蓋若干小條標準厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，鍍層測試儀測厚儀，留出中間部分。將該產品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，X-RAY測厚儀，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，測厚儀，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。
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