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一六儀器(圖)_X射線測厚儀_測厚儀

光譜測厚儀廠家

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詳細信息（一六儀器(圖)_X射線測厚儀_測厚儀）

X射線熒光能譜儀沒有復(fù)雜的分光系統(tǒng)，測厚儀，結(jié)構(gòu)簡單。X射線激發(fā)源可用X射線發(fā)生器，也可用放射性同位素。能量色散用脈沖幅度分析器。探測器和記錄等與X射線熒光光譜儀相同。

X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優(yōu)缺點。前者分辨率高，X-RAY測厚儀，對輕、重元素測定的適應(yīng)性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數(shù)量級，靈敏度高?？梢詫δ芰糠秶軐挼腦射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。