膜厚儀|X熒光膜厚儀

目前涂層測厚儀(膜厚儀）所采用的原理基本是以下幾種：

1. 放射性測厚法：利用射線穿透檢測。此類儀器價格非常昂貴（一般在10萬人民bi以上）。適用于一些特殊環(huán)境，各項技術(shù)參數(shù)要求相對比較高，使用范圍相對狹窄。

2. 超聲波測厚法：利用超聲波頻率變化檢測。適用于多層涂層厚度的測量。一般價格昂貴，測量精度也不高，國內(nèi)暫時還沒有投入生產(chǎn)。

3. 微波激光測厚法：正在研發(fā)中。

4. 電解測厚法：需要破壞涂層，X熒光膜厚儀，屬于有損檢測，基本上已棄用。

5. 渦流測厚法：利用渦流原理檢測。適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。也就是我們一般所說的鋁基膜厚儀。

6. 磁性測厚法：適用導(dǎo)磁是否會的非導(dǎo)磁層厚度測量。也就是我們一般所說的鐵基膜厚儀，這種方法測量結(jié)果精度高。

目前國內(nèi)的涂層測厚儀基本是采用渦流測厚法或磁性測厚法或二者相結(jié)合的原理。

業(yè)內(nèi)認(rèn)可的常用方法

一、磁性式

1，價格經(jīng)濟(jì)，約1千~2萬，具體材料的差別需另外購買測頭，且鍍膜的種類有限制。

2，無損檢測，使用簡便，方便檢測大型的工件，體積小，手表膜厚儀，約400cm2，300g左右。

3，測量厚度范圍廣，非金屬2~2000um左右，金屬鍍層2~40um左右，但只能測試單層膜厚。

4，測量誤差大，5%左右，分辨率低，膜厚儀，1um左右。

 5，測頭的面積偏大，對需測的樣品要求高：須有較大的平面用來測試（7mmψ左右），基材厚度在0.35mm以上，而且面對不同的形狀和材質(zhì)都需進(jìn)行校正

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

膜厚儀購買注意事項

1.首先需要了解測試的需求，如測試基體材料、涂鍍層材料、測試范圍及精度需求，緊固件膜厚儀，若濕膜或高溫條件下測量時需特別說明。

2.其次對于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測量，測量儀型號的選擇不受限制。

3.對于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對比膜厚儀的曲率是否滿足現(xiàn)場測量需求，如超標(biāo)需要配置特配探頭。。。