膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片|標(biāo)準(zhǔn)片|江蘇一六儀器有限公司(查看)

標(biāo)準(zhǔn)片分類

1.薄膜片，膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，單層測(cè)量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（*）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.

2.鍍層標(biāo)準(zhǔn)片：雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金標(biāo)準(zhǔn)片：合金鍍層測(cè)量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.測(cè)量厚度范圍：0.01~300μm.

鍍層標(biāo)準(zhǔn)片通常作用：

1：用來對(duì)膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進(jìn)行校驗(yàn)。在膜厚儀測(cè)試過程中對(duì)膜厚儀運(yùn)行過程中，確認(rèn)工作狀態(tài)。防止膜厚儀故障狀態(tài)時(shí)能*時(shí)間確認(rèn)。

2：專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，標(biāo)準(zhǔn)片，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

圖像設(shè)置：X射線光斑調(diào)整，十字叉絲中心與X射線重合

1.步驟：打開圖像→光斑→光斑坐標(biāo)

2.放銅絲工具與測(cè)試平臺(tái)，膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，使銅絲線與X軸平行，上下緩慢平移至計(jì)數(shù)率*大值的位置，膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，右擊光標(biāo)中心，自動(dòng)讀取射線中心Y軸坐標(biāo)。同理使銅絲線與Y軸平行，左右移動(dòng)至計(jì)數(shù)率*大值處得到射線中心X軸坐標(biāo)。至此得到射線中心點(diǎn)即光斑點(diǎn)，在光斑坐標(biāo)里輸入對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)。