測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、X-RAY測(cè)厚儀

江蘇一六儀器 X熒光鍍層測(cè)厚儀金屬成分含量的測(cè)定

在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線，就會(huì)產(chǎn)生元素1的熒光X射線，不過這個(gè)時(shí)候的熒光X射線的強(qiáng)度會(huì)隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線的強(qiáng)度就會(huì)變強(qiáng)。注意到這一點(diǎn)，如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強(qiáng)度，測(cè)厚儀，就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時(shí)候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。

一六儀器  X熒光光譜測(cè)厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點(diǎn)

     1.鍍層分析快速、無損，對(duì)樣品無需任何處理。一般測(cè)試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。

     2.可測(cè)試超薄的鍍層。

     3.可測(cè)試多鍍層，分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測(cè)量方法。

     4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對(duì)比分析樣品，就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。

     5.對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測(cè)量。

     6.對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別

     7.不可以測(cè)試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

     8.可以對(duì)極小樣品進(jìn)行測(cè)試

     9.屬于對(duì)比分析儀器，測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣

選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測(cè)厚儀理由：

   根據(jù)IPC規(guī)程，電鍍測(cè)厚儀，必須使用整塊的標(biāo)準(zhǔn)片來校正儀器，對(duì)于多鍍層的測(cè)量，目前大多數(shù)客戶購(gòu)買的測(cè)厚儀采用的是多種箔片疊加測(cè)量校正，比如測(cè)量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因?yàn)闇y(cè)量點(diǎn)很小，測(cè)量距離的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果有較大影響，如果使用Au，XRAY測(cè)厚儀，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時(shí)候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響，Elite（一六儀器）測(cè)厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/Base標(biāo)準(zhǔn)片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測(cè)量的準(zhǔn)確性。

2、采用微聚焦X射線管，油槽式設(shè)計(jì)，工作時(shí)采用油冷，長(zhǎng)期使用時(shí)壽命更長(zhǎng)。微聚焦X射線管配合比例接收能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

3、Elite（一六儀器）WinFTM軟件，具有強(qiáng)大且界面友好、中英文切換，最多可同時(shí)測(cè)量23層鍍層，24種元素，測(cè)量數(shù)據(jù)可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。采用基本參數(shù)法（FP），有內(nèi)置頻譜庫，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，X-RAY測(cè)厚儀，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確的分析和測(cè)量。

4、 Elite（一六儀器）針對(duì)PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設(shè)計(jì)的X射線熒光測(cè)厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點(diǎn)：1）工作臺(tái)有手動(dòng)和程序控制供客戶選擇，2）采用開槽式設(shè)計(jì)和配置加長(zhǎng)型樣品平臺(tái)，用于檢測(cè)大尺寸的線路板。