膜厚儀_鍍層膜厚儀

江蘇一六儀器   PCB板材 線路板大板件類X熒光光譜測厚儀

元素分析范圍：氯（CI）-鈾（U）

厚度分析范圍：各種元素及有機物

一次性同時分析：23層鍍層，24種元素

厚度最di檢出限：0.005um

最xiao測量面積:0.002m㎡

膜厚儀的特點

　　1、自動對焦作用。配備激光自動對焦作用，能夠準確對焦，提高量測效率。

　　2、具有焦點距離切換作用，適用于有凹凸的機器部件與電路板的底部進行量測

　　3、 膜厚儀 采用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成的損壞。

　　4、選用Mo靶材X射線管，量測更靈敏。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。擁有的技術(shù)，好的良將，嚴格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。一六儀器、一liu品質(zhì)，各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎來電咨詢！

膜厚儀也叫X射線測厚儀，X-RAY膜厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，鍍層膜厚儀，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，電鍍膜厚儀，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，膜厚儀，來進行定性和定量分析。

江蘇一六儀器   研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

電子元件測厚儀

儀器配置

微聚焦X射線裝置

正比jie shou qi 

信號放大器

微型移動滑軌

十二元素片

標準片Ni/Fe 5um

標準片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

膜厚儀購買注意事項

1.首先需要了解測試的需求，如測試基體材料、涂鍍層材料、測試范圍及精度需求，若濕膜或高溫條件下測量時需特別說明。

2.其次對于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測量，測量儀型號的選擇不受限制。

3.對于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對比膜厚儀的曲率是否滿足現(xiàn)場測量需求，如超標需要配置特配探頭。。。