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上照式:通常都有Z軸可移動,所以可對形狀復(fù)雜的樣品(如凹面內(nèi))做定位并且測試,一般可定位到2mm以內(nèi)的深度,如Thick800A,另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置,搭配的算法,可定位到80mm以內(nèi)的深度,如XDL237
下照式:通常都沒有Z軸可移動,所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進(jìn)行定位并測試,但操作簡單,造價相對低;部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復(fù)雜形狀樣品,同時也抬高了價格







江蘇一六儀器一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。
x射線熒光膜厚測厚儀還應(yīng)用于五金電鍍厚度檢測,首飾電鍍厚度檢測,電子連接件表層厚度檢測,電鍍液含量分析。電力行業(yè)高壓開關(guān)柜用銅鍍銀件厚度檢測,銅鍍錫件厚度檢測,航空材料金屬鍍層厚度檢測。銅箔鍍層厚度檢測,光伏行業(yè)焊帶銅鍍錫鉛合金厚度檢測,鐵鍍鉻 鍍鋅 鍍鎳厚度檢測等。


X熒光鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用
1.一般要求
使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。最后的測量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測量不確定度和測量精度。
參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層,如果是合金,則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層,規(guī)定以厚度為單位(而不是單位面積質(zhì)量)的標(biāo)準(zhǔn)塊,測厚儀,將是可靠的。合金組成的測定,首飾電鍍測厚儀,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同,但應(yīng)當(dāng)已知。
金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片,就必須注意確保接觸清潔,無皺折紐結(jié)。任何密度差異,除非測量允許,否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測。
2.標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇
可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器,厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對試樣基材為合金成分的,有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同,五金電鍍測厚儀,但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
3.標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射(或吸收)特性及使用
校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射(或吸收)特性。
如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定,則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性,通過比較被測試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度,然后通過軟件達(dá)到對儀器的校正。


