X熒光RoHS分析儀-浙江RoHS分析儀-京國(guó)藝科技

RoHS檢測(cè)誤區(qū)

   我公司成立于1993年，于1998年改制為民營(yíng)企業(yè)，正式更名為“北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司”。20余年來，我公司一直專注于X熒光光譜分析儀的生產(chǎn)研發(fā)工作。產(chǎn)品以其優(yōu)異的品質(zhì)，貼心的售后服務(wù)得到業(yè)內(nèi)人士的良好評(píng)價(jià)，在有害RoHS檢測(cè)行業(yè)內(nèi)發(fā)揮著重要的作用。

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RoHS檢測(cè)誤區(qū)：

1、RoHS中銅合金、鋼合金、鋁合金都有豁免，但時(shí)至今天還有客戶投訴銅合金內(nèi)鉛超標(biāo)(一萬多個(gè)PPM)。

2、上面一條可能稍有點(diǎn)RoHS常識(shí)的都會(huì)知道，但有時(shí)也因此走入誤區(qū)。如：作為電線導(dǎo)體的銅線或電子元件的引腳這些都是純銅，不屬豁免范疇。同理:純鐵、純鋁亦不屬此范疇。所以不能一概而論只要是銅、鋁、鐵都屬豁免范圍內(nèi)。

B:銅鋼鋁合金并沒有豁免，只是限值放寬了。比如銅合金，鉛的含量為40000PPM，但是其它元素還是按ROHS要求.

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RoHS分析儀配置

    “京國(guó)藝”立足國(guó)內(nèi)市場(chǎng)，以時(shí)代賦予的歷史責(zé)任感和持續(xù)創(chuàng)新的精神，于2005年正式推出應(yīng)對(duì)歐盟RoHS指令的GY-MARS/T系列X熒光光譜儀產(chǎn)品，為客戶提供RoHS快速檢測(cè)的解決方案。GY-MARS/T系列X熒光光譜儀可以對(duì)歐盟RoHS指令所限定的元素：（Pb）、（Cd）、（Cr）、（Hg）、（Br）、（Cl）進(jìn)行定點(diǎn)痕量檢測(cè)，精度和檢測(cè)下限完全滿足客戶進(jìn)行快速無損檢測(cè)的需求。

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探測(cè)器：

類型：電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器

產(chǎn)地：美國(guó)

Be窗厚度：1mil 

分辨率：149eV

系統(tǒng)峰背比：≥ 5000/1

信號(hào)處理器：

規(guī)格：第五代數(shù)字信號(hào)處理器

產(chǎn)地：美國(guó)

信號(hào)通過率2，000，臺(tái)式有害物質(zhì)分析儀，000cps

MCA通道數(shù)8K

探測(cè)器電源：

規(guī)格：第五代探測(cè)器、信號(hào)處理器反饋穩(wěn)壓電源

產(chǎn)地：美國(guó)

輸入電壓：5V

高壓電源：

規(guī)格：數(shù)控高壓電源

產(chǎn)地：美國(guó)

電壓：0 - 50kV

電流：0 - 2mA

功率：50W

電壓調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載）

電流調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載）

8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%

X光管：

規(guī)格：水冷X光管

產(chǎn)地：上海

電壓: 0 - 50kV

電流: 0 - 1mA

功率: 50W

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X熒光光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)

    “京國(guó)藝”立足國(guó)內(nèi)市場(chǎng)，以時(shí)代賦予的歷史責(zé)任感和持續(xù)創(chuàng)新的精神，于2005年正式推出應(yīng)對(duì)歐盟RoHS指令的GY-MARS/T系列X熒光光譜儀產(chǎn)品，X熒光RoHS分析儀，為客戶提供RoHS快速檢測(cè)的解決方案。GY-MARS/T系列X熒光光譜儀可以對(duì)歐盟RoHS指令所限定的元素：（Pb）、（Cd）、（Cr）、（Hg）、（Br）、（Cl）進(jìn)行定點(diǎn)痕量檢測(cè)，精度和檢測(cè)下限完全滿足客戶進(jìn)行快速無損檢測(cè)的需求。

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X熒光光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)：

a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，10~300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)價(jià)位的測(cè)定 。

c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，能量色散X熒光光譜儀，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，浙江RoHS分析儀，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。

f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

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