一六儀器(圖)-X熒光測(cè)厚儀-測(cè)厚儀

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

       X熒光涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)試原理

同樣，L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時(shí)就有能量ΔE釋放出來(lái)，且ΔE=EK-EL，這個(gè)能量是以X射線形式釋放，產(chǎn)生的就是Kα 射線，鍍層膜厚儀1，同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下: λ=K(Z-s)-2 這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外，熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀  元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）   

                                                     厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物 

     x射線熒光鍍層測(cè)厚儀（國(guó)產(chǎn)）是一款針對(duì)金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過(guò)X熒光照射出產(chǎn)品，每個(gè)元素反射出的二次特征譜線，通過(guò)檢測(cè)器分析出強(qiáng)度來(lái)金屬鍍層的厚度，完全達(dá)到無(wú)損、快速分析的效果，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)（鋁平行管、電鍍五金），熒光測(cè)厚儀，連接器企業(yè)、開(kāi)關(guān)企業(yè)等。

     x射線熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

采用高度定位激光，測(cè)厚儀，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

minimum  φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)x射線熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

minimum φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

分析含量一般為2ppm到99.9%

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層，X熒光測(cè)厚儀，24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測(cè)量精度高。

2.渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

3.超聲波測(cè)厚法

目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。

4.電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩。

5.放射測(cè)厚法

此種儀器價(jià)格昂貴，適用于一些特殊場(chǎng)合。