膜厚分析儀-膜厚儀-一六儀器

江蘇一六儀器  珠寶、首飾X熒光光譜測厚儀

儀器配置

微聚焦X射線裝置

信號放大器

微型移動滑軌

十二元素片

如果膜厚測試儀已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)；根據(jù)統(tǒng)計學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由膜厚測試儀顯示的測量值都是五次“看不見”的測量的平均值。這五次測量是在幾分之一秒的時間內(nèi)由探頭和儀器完成的。

膜厚測試儀測量時間的選擇：測量時間越長穩(wěn)定度越好，一般來說，單鍍層不小于15秒，雙鍍層和合金比例測量時間不少于30秒鐘，三鍍層測量時間不少于45秒，鍍液主離子濃度測量時間在30～60秒之間。

江蘇一六儀器   X射線熒光鍍層測厚儀

微聚焦射線管、的光路設(shè)計，鍍金膜厚儀，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍：氯（CI）-鈾（U）

厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物

一次性同時分析：23層鍍層，24種元素

厚度最di檢出限：0.005um

最xiao測量面積:0.002m㎡

對焦距離：0-90（測試凹槽，可變焦）

樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

儀器重量：55kg

目前涂層測厚儀(膜厚儀）所采用的原理基本是以下幾種：

1. 放射性測厚法：利用射線穿透檢測。此類儀器價格非常昂貴（一般在10萬人民bi以上）。適用于一些特殊環(huán)境，各項技術(shù)參數(shù)要求相對比較高，使用范圍相對狹窄。

2. 超聲波測厚法：利用超聲波頻率變化檢測。適用于多層涂層厚度的測量。一般價格昂貴，測量精度也不高，國內(nèi)暫時還沒有投入生產(chǎn)。

3. 微波激光測厚法：正在研發(fā)中。

4. 電解測厚法：需要破壞涂層，屬于有損檢測，基本上已棄用。

5. 渦流測厚法：利用渦流原理檢測。適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。也就是我們一般所說的鋁基膜厚儀。

6. 磁性測厚法：適用導(dǎo)磁是否會的非導(dǎo)磁層厚度測量。也就是我們一般所說的鐵基膜厚儀，光譜膜厚儀，這種方法測量結(jié)果精度高。

目前國內(nèi)的涂層測厚儀基本是采用渦流測厚法或磁性測厚法或二者相結(jié)合的原理。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。擁有的技術(shù)，優(yōu)質(zhì)的良將，膜厚儀，能夠應(yīng)付各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎來電咨詢！

影響膜厚儀測量的的客觀因素

聲速選擇錯誤。測量工件前，根據(jù)材料種類預(yù)置其聲速或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測出聲速。當(dāng)用一種材料校正膜厚儀后（常用試塊為鋼）又去測量另一種材料時，將產(chǎn)生錯誤的結(jié)果。要求在測量定要正確識別材料，選擇合適聲速。