高精度測厚儀-測厚儀-一六儀器(查看)

       江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

       X熒光鍍層測厚儀金屬成分含量的測定

在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線，就會產(chǎn)生元素1的熒光X射線，不過這個時候的熒光X射線的強度會隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線的強度就會變強。注意到這一點，如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度，就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集，EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件，測厚儀，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。最后的測量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標(biāo)準(zhǔn)塊，凹糟測厚儀，將是可靠的。合金組成的測定，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同，但應(yīng)當(dāng)已知。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。

2．標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，高精度測厚儀，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀相關(guān)注意事項：

　　儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

　　本儀器為精密儀器，配備高精度的穩(wěn)壓電源.計算機應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。

　　儀器應(yīng)特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

　　為避免短路，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸，如果液體進入儀器，請立即關(guān)閉儀器。

　　本儀器不能用于酸性環(huán)境和易爆場合。

　　不要弄臟和刮擦調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片，否則會造成讀數(shù)錯誤。

　　不要用任何機械或化學(xué)的方法調(diào)校片上的臟物，可以用不起毛的布輕輕擦拭。