鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片(圖)-涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 -測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

標(biāo)準(zhǔn)片分類

1.薄膜片，單層測(cè)量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（*）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.

2.鍍層標(biāo)準(zhǔn)片：雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金標(biāo)準(zhǔn)片：合金鍍層測(cè)量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.測(cè)量厚度范圍：0.01~300μm.

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。擁有的技術(shù)，好的良將，能夠應(yīng)付各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題。應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、jun工等制造領(lǐng)域。

美國(guó)CAL標(biāo)準(zhǔn)片，CALMETRIC標(biāo)準(zhǔn)片，CMI標(biāo)準(zhǔn)片，測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，CAL校正片，又稱標(biāo)準(zhǔn)箔，膜厚片。根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 ，來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品，電鍍測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

測(cè)量頭參數(shù)

1.參數(shù)→測(cè)量頭→射線管50V，管壓設(shè)置為3800左右，管流根據(jù)實(shí)際準(zhǔn)直器設(shè)管流（保證Ag計(jì)數(shù)率在2200左右）

1.  準(zhǔn)直器根據(jù)實(shí)際（確認(rèn)系統(tǒng)準(zhǔn)直器和儀器是否一致）

步驟：參數(shù)→測(cè)量頭→準(zhǔn)直器→勾選使與實(shí)際準(zhǔn)直器保持一致。

2.  濾光片Ni，鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，實(shí)際設(shè)置

測(cè)Ni/Fe標(biāo)準(zhǔn)片，步驟：產(chǎn)品程式→選擇→Ni/Fe→開始。得到數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)片數(shù)據(jù)對(duì)比，用參數(shù)→測(cè)量頭→濾光片→微調(diào)Ni厚度數(shù)據(jù)，測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)片，使測(cè)量數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)片數(shù)據(jù)接近。