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江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系!
1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3準直器程控交換系統(tǒng)最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制多種規(guī)格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950-樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制







一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,鍍層測厚儀,LED和照明,家用電器,通訊,測厚儀,汽車電子領域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
定位方式:
1、移動平臺:
A、手動(普通和帶精密滑軌移動):裝配設計不同精準移位從0.5mm-0.005mm不等,移動的靈動性差距也很大。
B、電動(自動):裝配設計不同精準移位從0.2mm-0.002mm不等
但同樣的手動或者自動,其定位精準也相差很多。
2、高度定位:
A、手動變焦和無變焦
B、激光對焦和CCD識別對焦


江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
X熒光涂鍍層測厚儀測試原理
同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層,測厚儀,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產(chǎn)生的就是Kα 射線,同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ,L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn),熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關,其數(shù)學關系如下: λ=K(Z-s)-2 這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數(shù),因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,漆膜測厚儀,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。


