X-ray測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片-測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片-標(biāo)準(zhǔn)片

標(biāo)準(zhǔn)片分類

1.薄膜片，單層測(cè)量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（*）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，標(biāo)準(zhǔn)片，其它鍍層可定制.

2.鍍層標(biāo)準(zhǔn)片：雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金標(biāo)準(zhǔn)片：合金鍍層測(cè)量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.測(cè)量厚度范圍：0.01~300μm.

距離調(diào)校

打開軟件后從菜單中找到

菜單，然后從根部下拉菜單中找到

子菜單。打開距離調(diào)校會(huì)出現(xiàn)距離調(diào)校樣品窗口，由于我們儀器多數(shù)情況下調(diào)校會(huì)常用到標(biāo)準(zhǔn)片（其表面到測(cè)試窗口的距離為0.5mm)，元素片（其表面到測(cè)試窗口的距離為0.5mm)，X-ray測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，裝標(biāo)準(zhǔn)片的盒子（其高度為17mm）。為了方便快速調(diào)試清晰度，我們把已知的2個(gè)高度輸入到距離調(diào)校樣品中。

鍍層標(biāo)準(zhǔn)片通常作用：

1：用來對(duì)膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進(jìn)行校驗(yàn)。在膜厚儀測(cè)試過程中對(duì)膜厚儀運(yùn)行過程中，確認(rèn)工作狀態(tài)。防止膜厚儀故障狀態(tài)時(shí)能*時(shí)間確認(rèn)。

2：專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。