電鍍厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀-一六儀器(在線咨詢)-膜厚儀

江蘇一六儀器  珠寶、首飾X熒光光譜測(cè)厚儀

儀器配置

微聚焦X射線裝置

信號(hào)放大器

微型移動(dòng)滑軌

十二元素片

如果膜厚測(cè)試儀已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)；根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由膜厚測(cè)試儀顯示的測(cè)量值都是五次“看不見”的測(cè)量的平均值。這五次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由探頭和儀器完成的。

膜厚測(cè)試儀測(cè)量時(shí)間的選擇：測(cè)量時(shí)間越長(zhǎng)穩(wěn)定度越好，一般來說，電鍍厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀，單鍍層不小于15秒，雙鍍層和合金比例測(cè)量時(shí)間不少于30秒鐘，三鍍層測(cè)量時(shí)間不少于45秒，鍍液主離子濃度測(cè)量時(shí)間在30～60秒之間。

江蘇一六儀器   線路板PC板類鍍層分析通用型測(cè)厚儀 X

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍：氯（CI）-鈾（U）

厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物

一次性同時(shí)分析：23層鍍層，在線測(cè)厚儀膜厚儀，24種元素

厚度最di檢出限：0.005um

膜厚儀測(cè)試時(shí)有關(guān)輻射安全注意事項(xiàng)

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產(chǎn)生輻射。測(cè)量頭的設(shè)計(jì)完全符合國(guó)際X射線安全要求：1.測(cè)量頭控制臺(tái)上的一個(gè)鑰匙開關(guān)通過打開或關(guān)閉X射線管上的高壓決定X幅射的產(chǎn)生與否；2.一個(gè)多級(jí)故障自動(dòng)保險(xiǎn)互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產(chǎn)生，從而有效保護(hù)操作者的安全；3.如果測(cè)量門沒有完全關(guān)閉，X幅射就不會(huì)進(jìn)入測(cè)量室；4.足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀，穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

選擇膜厚測(cè)量?jī)x須知

根據(jù)測(cè)量原理，鍍層厚度檢測(cè)膜厚儀，涂層厚度計(jì)通常有五種類型：

1、磁性厚度測(cè)量：適用于測(cè)量磁性材料上非磁性層的厚度。一般來說，磁性材料是滄州甌鋼、鐵、銀和鎳。

2、渦流厚度測(cè)量：適用于測(cè)量導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層的厚度。這種方法比磁厚度測(cè)量精度低。

3、超聲波厚度測(cè)量：目前國(guó)內(nèi)尚沒有用這種方法測(cè)量涂層厚度。國(guó)外一些廠家也有這種儀器，膜厚儀，多層涂敷厚度測(cè)量的應(yīng)用是上述兩種方法無法測(cè)量的情況。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度不高。

4、電解厚度測(cè)量方法：此方法不同于上述三種，不屬于NDT，需要破壞涂層。一般精度不高。

5、輻射厚度測(cè)量：該儀器非常昂貴（通常超過10萬元人民bi），適用于某些特殊場(chǎng)合。