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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,電解測厚儀,24種元素 厚度檢出限:0.005um
鍍層厚度分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法
適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法
適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法
目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,鋼板測厚儀,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。
4.電解測厚法
此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法
此種儀器價格昂貴,適用于一些特殊場合。










江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產、銷售的。
X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進行分析的一種常見分析儀器。通常認為X區(qū)域0.01-10nm之間的一段電磁波譜,短波邊以伽馬射線為界,長波邊與真空紫外線區(qū)域的實際界線。
X射線熒光光譜儀特點
1、一種真正意義上 的無損分析,在分過程中不會改變樣品的化學形態(tài)。具有不污染、節(jié)能低耗等優(yōu)點。
2、分析速度快,無須進行樣品預處理,升值無須樣品的制備,X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測在3分鐘以下。
3、自動化程度高。
4、可以同時測定樣品中的多種元素。
5、隨著分析技術的發(fā)展,儀器可以滿足很多行業(yè)的需求。如:地質礦產,冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業(yè)。
6、樣品的形態(tài)廣。
7、X射線熒光光譜儀分為波長色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個元素的需求。
8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。



一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X射線熒光光譜測厚儀 X射線的產生
X射線波長略大于0.5納米的被稱作軟X射線。波長短于0.1納米的叫做硬X射線。
產生X射線的最簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中,電子突然減速,其損失的動能(其中的1%)會以光子形式放出,形成X光光譜的連續(xù)部分,稱之為制動輻射。通過加大加速電壓,電子攜帶的能量增大,則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴,外層電子躍遷回內層填補空穴,測厚儀,同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是化的,覆層測厚儀,所以放出的光子的波長也集中在某些部分,形成了X光譜中的特征線,此稱為特性輻射。



