光譜儀-一六儀器-火花光譜儀

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測(cè)厚儀可調(diào)整測(cè)量位置，非常敏捷快速?；蚴菧y(cè)量位置已完成登陸時(shí)，可連續(xù)自動(dòng)測(cè)定，利用座標(biāo)補(bǔ)正、連結(jié)頻道，來應(yīng)付各種測(cè)量軌跡。亦可用自動(dòng)測(cè)定來作標(biāo)準(zhǔn)片校正。

　　測(cè)定部顯示盡像的表示：X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準(zhǔn)儀照射測(cè)定物的位置，可由倍率率更機(jī)能來實(shí)現(xiàn)盡面上測(cè)出物放大。。。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，近紅外光譜儀，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

目前，金屬鍍層常用的分析方法有濕化學(xué)電解分析、輝光放電---發(fā)射光譜分析（GD-OES）和X射線熒光光譜儀等。濕化學(xué)電解分析需選用適當(dāng)溶解選定的鍍層，逐層溶解并進(jìn)行測(cè)定，方法準(zhǔn)確但費(fèi)時(shí)費(fèi)力，尤其是相關(guān)特定的選擇也非常復(fù)雜，價(jià)格又貴，屬于典型破壞性樣品檢測(cè)，測(cè)量手段手段繁瑣，速度慢，電解液耗損大，目般很少應(yīng)用。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層，再用發(fā)射光譜測(cè)定，這種方法可實(shí)現(xiàn)剖面或逐層分析，但測(cè)量重復(fù)性并不理想。

江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測(cè)厚儀

產(chǎn)品配置

X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管，正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器，高清攝像頭，火花光譜儀，高度激光，光譜儀，信號(hào)檢測(cè)電子電路。

性能指標(biāo)

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測(cè)元素：CI～U

檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管

樣品觀察：CCD攝像頭

測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動(dòng)高度 20mm