穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀廠家服務(wù)為先

超低溫樣品室附件　　

Flex One顯微光致發(fā)光光譜儀可以選配超低溫樣品室，標(biāo)準(zhǔn)制冷溫度可達(dá)10-20K，*低可選1.7K，采用閉循環(huán)結(jié)構(gòu)，穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀廠家，使用過程中無需添加冷媒。

應(yīng)用舉例InGaN/GaN多阱的PL譜和EL譜測試

● 樣品提供：KingAbdullUniversity ofScience and Technology提供的基于藍(lán)寶石襯底MOCVD 生長的 InGaNGaN 阱● 測試條件：325nm激發(fā)，功率30mW● 光譜范圍：340-700nm

1. 光致發(fā)光(PL)光譜測量

分別針對材料的正極( 紅色) 和負(fù)極( 綠色) 測試得到光致發(fā)光光譜曲線如下，GaN 的本征發(fā)光峰365nm 附近以及黃帶，InGaN 的發(fā)光峰475nm 附近。2. 電致發(fā)光(EL)光譜測量

將材料的正負(fù)極接到直流電源的正負(fù)極，電壓加到2.5V 時可以有明顯的藍(lán)光發(fā)射，測量其電致發(fā)光光譜曲線如下（紅色），峰值在475nm 附近。

組合式熒光光譜測量系統(tǒng)-OmniPL系列

光致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光。PL 熒光測量系統(tǒng)通常是用較強(qiáng)的單色光（如激光器等）激發(fā)樣品/ 材料（如GaN/ZnO 等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜的測量，分析該材料的光學(xué)特性。典型應(yīng)用于LED 發(fā)光材料、半導(dǎo)體材料的研究。

OmniPL 系列穩(wěn)態(tài)熒光光譜測量系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，在滿足PL 光譜測量的同時，用戶可以根據(jù)不同的實驗需求，選擇不同的配件，靈活的進(jìn)行系統(tǒng)功能的擴(kuò)展。

OmniPL-MicroS組合式顯微光致發(fā)光光譜系統(tǒng)

性能特點

●  模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計——水平和垂直光路可選，組合方便

●  超寬光譜范圍*——200nm-1600nm

●  默認(rèn)適配激光波長——325nm

●  其它激光器波長可選*——405nm/532nm/633nm等

●  電致發(fā)光(EL)功能可選**——擴(kuò)展選項

●  超低溫測量附件可選**——可提供≤10K的超低溫測量

*需根據(jù)實際需要進(jìn)行配置確定；

**選配項，請詳細(xì)咨詢。