離線aoi自動光學(xué)檢測儀-億昇精密波峰焊-aoi自動光學(xué)檢測

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡單易用、功能強(qiáng)大的視覺檢查系統(tǒng)。

AOI 四個(gè)檢測位置中， 錫膏印刷之后、 ( 片式 ) 器件貼放之后和元件貼放之后的檢測目的在于預(yù)防問題，在這幾個(gè)位置檢測， 能夠阻止缺陷的產(chǎn)生; 在回流焊接之后的檢測， 則目的在于發(fā)現(xiàn)問題。預(yù)防問題 AOI放置在爐前， 發(fā)現(xiàn)問題 AOI 放置在爐后。當(dāng)前來說， 爐前的 AOI 比爐后的 AOI 重要， 但爐后的檢查特別是焊點(diǎn)類不良的檢查是 AOI 的檢查的難點(diǎn)，aoi自動光學(xué)檢測， Teradyne 的Optima7000 系統(tǒng)就側(cè)重于爐后的檢測。更多的 AOI 都具有很大的彈性度， 安捷倫的 SJ50 與 SP50 ( 三維) 焊膏檢測系統(tǒng)使用統(tǒng)一化平臺， 可以互換照明頭。 Omron和 Teradyne 的 AOI 都可以移到其它測試位置。

自動光學(xué)檢查是工業(yè)制程中常見的代表性手法，利用光學(xué)方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵，aoi全自動光學(xué)檢測儀，因?yàn)槭欠墙佑|式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。優(yōu)點(diǎn)都促使自動光學(xué)檢測在電路板組裝過程中受到了大程度的歡迎，得到了廣泛的應(yīng)用。

AOI是近才興起的一種新型測試技術(shù)，aoi自動光學(xué)檢測儀哪家好，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。以SMT檢測為例，當(dāng)自動檢測時(shí)，機(jī)器通過攝像頭自動掃描PCB，采集圖像，測試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，離線aoi自動光學(xué)檢測儀，供維修人員修整。

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡單易用、功能強(qiáng)大的視覺檢查系統(tǒng)。

近年來軟件方面， 使用了很多電路板圖像的檢測算法， 這些算法大致可分為三大類: 有參考比較算法、無參考校驗(yàn)法以及混合型算法。有參考比較算法分為兩大類， 圖像對比法和模型對比法。這類方法算法簡單， 容易實(shí)現(xiàn)， 但是它不容易檢測線寬、線距違例等瑕疵。無參考校驗(yàn)法不需要任何參考圖象， 它依據(jù)預(yù)先定義的 PCB 的設(shè)計(jì)規(guī)則來判斷待檢 PCB 圖象是否有瑕疵， 如果它不符合設(shè)計(jì)規(guī)則， 就認(rèn)為有瑕疵， 因此也稱為設(shè)計(jì)規(guī)則校驗(yàn)法。這類方法雖然在榆測線寬、線距違例這類瑕疵時(shí)能夠收到很好的效果， 但是其算法復(fù)雜， 運(yùn)算量很大， 而且易漏柃線、焊盤丟失等大瑕疵?；旌闲头椒ㄊ菍⒂袇⒖急容^算法與無參考校驗(yàn)法混合使用， 在一定程度上克服了前兩類方法的缺點(diǎn)，從而發(fā)揮它們各自的優(yōu)點(diǎn)。比如， 模板匹配法與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)方法結(jié)合使用， 或者連接表方法與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)方法結(jié)合使用等。但當(dāng)前這種方法還不足很成熟， 其算法復(fù)雜， 不能滿足實(shí)時(shí)檢測的要求， 且自適應(yīng)性不夠， 系統(tǒng)擴(kuò)展能力差。當(dāng)前 AOI 檢測系統(tǒng)圖像處理基本上采用的是參考算法， 國外進(jìn)口品牌大多使用圖像匹配、法則判別登多種組合手段。