GBT2423.2-2008電快速脈沖群測(cè)試經(jīng)驗(yàn)分享量大從優(yōu)

EMC測(cè)試介紹

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類(lèi)靜電放電騷擾時(shí)的性能。

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電磁兼容的發(fā)展

電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展，電和磁無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著人們的生活及生產(chǎn)，電磁能的廣泛應(yīng)用，GBT2423.2-2008電快速脈沖群測(cè)試經(jīng)驗(yàn)分享，使工業(yè)技術(shù)的發(fā)展日新月異。電磁能在為人類(lèi)創(chuàng)造巨大財(cái)富的同時(shí)，也帶來(lái)一定的危害，被稱(chēng)為電磁污染，研究電磁污染是環(huán)境保護(hù)中的重要分支。以往人們把無(wú)線電通訊裝置受到的干擾，稱(chēng)為電磁干擾，表明裝置受到外部干擾侵入的危害，其實(shí)它本身也對(duì)外部其他裝置造成危害，即成為干擾源。因此必須同時(shí)研究裝置的干擾和被干擾，對(duì)裝置內(nèi)部的組織和裝置之間要注意其相容性。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，日益廣泛采用的微電子技術(shù)和電氣化的逐步實(shí)現(xiàn)，形成了復(fù)雜的電磁環(huán)境。不斷研究和解決電磁環(huán)境中設(shè)備之間以及系統(tǒng)間相互關(guān)系的問(wèn)題，促進(jìn)了電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展。

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關(guān)于電磁兼容

電磁兼容(EMC) 是對(duì)電子產(chǎn)品電磁場(chǎng)方面干擾大小(EMI)和抗干擾能力(EMS) 的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。

輻射發(fā)射:通過(guò)空間以電磁波形式傳播的電磁干擾。

傳導(dǎo)發(fā)射:沿著導(dǎo)體傳播的電磁干擾。

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