數(shù)字芯片設(shè)計實訓-數(shù)字芯片-驅(qū)動型號電子驅(qū)動ic(查看)

一、物理基礎(chǔ)    所有物質(zhì)按照導電能力的差別可分為導體、半導體和絕緣體三類。半導體材料的導電性能介于導體和絕緣體之間?；蛘哒f，半導體是介于導體和絕緣體之間的物質(zhì)。常用的半導體材料有：元素半導體硅(Si)和鍺(Ge)、化合物半導體(GaAs)等。導體的電阻率在10-4Ω?cm以下，如銅的電阻率為1.67×10-6 Ω?cm，絕緣體的電阻率在1010 Ω?cm以上，半導體的電阻率在10-3Ω?cm～109Ω?cm之間，與導體的電阻率相比較，半導體的電阻率有以下特點。

1.對溫度反映靈敏

導體的電阻率隨溫度的升高略有升高，如銅的電阻率僅增加0.4%左右，但半導體的電阻率則隨溫度的上升而急劇下降，如純鍺，溫度從20℃上升到30℃時，電阻率降低一半左右。

2.雜質(zhì)的影響顯著

金屬中含有少量雜質(zhì)其電阻率不會發(fā)生顯著變化，但是，極微量的雜質(zhì)摻在半導體中，會引起電阻率的極大變化。如在純硅中加入百萬分之一的硼，就可以使硅的電阻率從2.3×105 Ω?cm急劇減少到0.4 Ω?cm左右。

3.光照可以改變電阻率

例如，有些半導體(如)受到光照時，其導電能力會變得很強；當無光照時，又變得像絕緣體那樣不導電，利用這種特性可以制成光敏元件。而金屬的電阻率則不受光照的影響。

溫度、雜質(zhì)、光照對半導體電阻率的上述控制作用是制作各種半導體器件的物理基礎(chǔ)。

在開展數(shù)字ic電路設(shè)計設(shè)計過程中，數(shù)字芯片，無論是ASIC﹨FPGA，系統(tǒng)軟件數(shù)字時鐘的可信性，十分重要。設(shè)計方案欠佳的數(shù)字時鐘在限的溫度、工作電壓或生產(chǎn)制造加工工藝的誤差狀況下將造成 錯誤的行為。而且一般和數(shù)字時鐘有關(guān)的難題，在調(diào)節(jié)全過程中，難度系數(shù)很大、精準定位較難、開銷非常大。

數(shù)字ic時鐘種類

一般數(shù)字時鐘可分成以下四種種類：全局性數(shù)字時鐘、自動門數(shù)字時鐘、多級別邏輯性數(shù)字時鐘和起伏式數(shù)字時鐘?？墒窃诰唧w工作上，一個設(shè)計方案里邊，通常全是多時鐘系統(tǒng)，即包含所述四種數(shù)字時鐘種類的隨意組成。

質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC 產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)，長久的耐力往往就是一顆IC產(chǎn)品的競爭力所在。在做產(chǎn)品驗證時我們往往會遇到三個問題，驗證什么，如何去驗證，哪里去驗證，這就是what， how ， where 的問題了。解決了這三個問題，質(zhì)量和可靠性就有了保證，制造商才可以大量地將產(chǎn)品推向市場，客戶才可以放心地使用產(chǎn)品?，F(xiàn)將目前較為流行的測試方法加以簡單歸類和闡述，力求達到拋磚引玉的作用。

質(zhì)量（Quality） 就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個產(chǎn)品是否合乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標的問題；可靠性（Reliability）則是對產(chǎn)品耐久力的測量，它回答了一個產(chǎn)品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。所以說質(zhì)量（Quality）解決的是現(xiàn)階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。知道了兩者的區(qū)別，我們發(fā)現(xiàn)，Quality 的問題解決方法往往比較直接，設(shè)計和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后，通過簡單的測試，就可以知道產(chǎn)品的性能是否達到SPEC 的要求，這種測試在IC的設(shè)計和制造單位就可以進行。相對而言，數(shù)字芯片測試儀，Reliability 的問題似乎就變的十分棘手，這個產(chǎn)品能用多久，who knows? 誰會能保證今天產(chǎn)品能用，明天就一定能用？為了解決這個問題，人們制定了各種各樣的標準.