不分光紅外線氣體分析儀廠商

紅外線氣體分析儀的作用 

紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行的氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射度;K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);C--待分析組分的氣體濃度;L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀的方法如下：

1.通電預(yù)熱30分鐘，檢查所接管路是否有泄漏。被檢儀表不帶數(shù)值顯示功能的在電信號輸出端接數(shù)字校準(zhǔn)儀或萬用表;

2.把標(biāo)準(zhǔn)零點(diǎn)氣體接入分析儀入口，并把流量通過標(biāo)準(zhǔn)氣體氣瓶的減壓閥調(diào)節(jié)到0.5L/min，穩(wěn)定3min后，測量其輸出值應(yīng)在4mA;否則調(diào)節(jié)零點(diǎn)電位器使之為4mA;

3.零點(diǎn)校準(zhǔn)后，把標(biāo)準(zhǔn)量程氣體接入分析儀入口，并把流量通過標(biāo)準(zhǔn)氣體氣瓶的減壓閥調(diào)節(jié)到0.5L/min，穩(wěn)定3min后，不分光紅外線氣體分析儀廠商，測量其輸出值應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)量程氣體對應(yīng)的電流值;否則調(diào)節(jié)量程電位器;

紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了干擾組分的干擾，準(zhǔn)確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設(shè)置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進(jìn)入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

　　水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產(chǎn)狀態(tài)的變化，預(yù)處理運(yùn)行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會使進(jìn)入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長范圍內(nèi)幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當(dāng)兩者的吸收波帶重疊時，即使采取前述措施，也難以水分干擾帶 來的測量誤差。因為這些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時變化，所以很難估計其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預(yù)處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點(diǎn)。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。