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KOAN 鍍金晶片應(yīng)用于耗散型石英晶體微天平(QCM-D) 工作原理介紹：

它可以同時測量石英晶體頻率(Δf)和耗散值(ΔD)的改變。與傳統(tǒng)石英晶體微天平工作原理不同，鍍金晶片封裝尺寸，QCM-D 通過間歇的打開/斷開電路，記錄芯片頻率改變，以及基頻從振蕩到完全靜止時變化快慢。通過對耗散值的觀測，物質(zhì)內(nèi)部的粘彈性以及結(jié)構(gòu)變化可以被實(shí)時的監(jiān)測，進(jìn)而準(zhǔn)確的測量吸附粘彈性物質(zhì)的質(zhì)量。耗散（ΔD）是指當(dāng)驅(qū)動石英晶體振蕩的電路斷開后，晶體頻率降低到 0的時間相對快慢。通過 QCM-D 技術(shù)則可以準(zhǔn)確的給出由耗散導(dǎo)致的頻率損失，從而可以進(jìn)一步了解材料內(nèi)部性質(zhì)。

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凱擎東光為你介紹 耗散型石英晶體微天平（QCM-D）

它是一種基于石英晶體微天平（QCM）技術(shù)發(fā)展出的一款新興的石英晶體微天平技術(shù)。它是一種檢測吸附在石英晶體表面上的分子反應(yīng)機(jī)制的實(shí)時分析儀器。該儀器基于耗散因子檢測功能的石英晶體微天平技術(shù)，可以實(shí)時檢測分子層的質(zhì)量、厚度和結(jié)構(gòu)改變，鍍金晶片，可用于全方面的分子吸附和解吸、薄膜的溶脹以及交聯(lián)等方面的研究。在材料、蛋白質(zhì)和表面活性劑等領(lǐng)域的研究中，QCM-D 設(shè)備起到了關(guān)鍵作用。

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凱擎東光科普介紹石英晶體微天平（QCM ）儀器

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QCM 是一種非常靈敏的質(zhì)量檢測儀器，其測量精度可達(dá)納克級，比靈敏度在微克級的電子微天平高 1000 倍，理論上可以測到的質(zhì)量變化相當(dāng)于單分子層或原子層的幾分之一。QCM 石英微天平不光可以用于空氣中，同樣也可以用于液體中，所以可以對固液中的微小質(zhì)量做準(zhǔn)確測量。QCM 晶體通常使用的是 AT 切割，利用晶體材料的壓電效應(yīng)，當(dāng)電極表面上的附加質(zhì)量增加，振蕩頻率會降低。諧振器的衰減與被吸附的質(zhì)量成正比。Δm = ? C ·Δf/n。