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芯片檢測顯微鏡的特點
以下內(nèi)容由老上光儀器廠為您提供,今天我們來分享芯片檢測顯微鏡的相關(guān)內(nèi)容,希望對同行業(yè)的朋友有所幫助!
1. 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片),視場大而清晰。
2. 配置大移動范圍的載物臺,能快速和慢速移動。
3. 粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu),粗動松緊可調(diào),芯片檢測顯微鏡公司,帶鎖緊和限位裝置,芯片檢測顯微鏡,微動格值:2μm。
4. 可調(diào)亮度的鹵素?zé)簟?/p>
5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察,可進行透光攝影。

芯片檢測顯微鏡的設(shè)計理念
老上光儀器廠專業(yè)生產(chǎn)、銷售芯片檢測顯微鏡,以下信息由老上光儀器廠為您提供。
采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計理念,可以方便升級系統(tǒng),實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能,緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,芯片檢測顯微鏡價格,充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機工程學(xué)要求的理想設(shè)計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察,芯片檢測顯微鏡哪家好,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。

芯片檢測顯微鏡——芯片檢測
倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析
在倒裝芯片的焊接中,組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是如果使用近紅外線顯微鏡,則可以在不破壞封裝的前提下,透過硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下,就可以輕松進行不良狀況分析。對必需用FIB(Focused Ion Beam)處理位置的也很有效。
想要了解更多芯片檢測顯微鏡的相關(guān)內(nèi)容,請及時關(guān)注老上光儀器廠。

