測厚儀-江蘇一六儀器-電鍍測厚儀

江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀

應用領域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

X射線測厚儀的安全問題：

其實從科學的角度分析，20Kv的X射線能量本身就很低，測厚儀，不知道你見過牙片機嗎？那個還60KV以上呢，從你給的這個數(shù)值來看應該是測量紙或者鋁箔之類的低密度、很薄的物品的，這樣看來，即便這中能量的X射線一直不停的對直你本人進行照射都不會有問題，何況還是折射和衍射，折射和衍射后的能量與原來的能量比是非常非常低的，200CI的Co-60源產(chǎn)生的射線，經(jīng)過6次折射可以達到環(huán)境水平，可見能量損耗之強，衍射就更不用說了 ，這種能量的X射線根本就不會有衍射產(chǎn)生的，不用擔心，所以，電鍍測厚儀，切莫恐慌。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀，穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，獨特聚焦和變距設計，多元EFP算法，簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，光譜膜厚儀，下面就來了解下先：

  一、技術(shù)參數(shù)

  采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；

  測量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測頭），F(xiàn)10測頭可達10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1測頭）

  示值精度：±（3％H+1）μm；H為被測涂層厚度

  顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

  存儲容量：可存儲20組（每組多50個測量數(shù)值）測量數(shù)據(jù)

  單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓：3V（2節(jié)5號堿性電池）

  持續(xù)工作時間：大于200小時（不開背光燈）

  通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。