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一、外凸式:五金蝕刻廠家引見,外凸試銜接點設(shè)計次要是使用于標牌,手機外殼,手機殼LOGO曝光顯影設(shè)計,產(chǎn)品的外殼等外表鍵,外觀看上去不可有毛邊、凹點等缺陷。外凸試計也有兩種方式,一種是資料厚度大于0.3時,銜接點可以設(shè)計為正面半刻,反面才有銜接點,方便打磨等方式去掉;另一種是厚度小于0.3時,銜接點不可半刻。
二、內(nèi)凹式:五金蝕刻剖析,內(nèi)凹試設(shè)計次要是使用于功用性產(chǎn)品,邊緣的小凹點不影響產(chǎn)品的功用。資料的厚度不同銜接點的大小也不同,資料越薄,金屬蝕刻銜接點越小,資料越厚,蝕刻銜接點越大。

氧化時間和電壓、電流密度、溶液溫度都必須嚴格按工藝要求執(zhí)行,不得隨意更改。如遇特殊情況,手機殼LOGO曝光顯影加工,必須經(jīng)工程主要負責人或工藝工程師同意后方可更改,必須做好詳細更改記錄。形狀大小相差較大的工件及氧化參數(shù)不同的工件,不允許在同一氧化缸中進行氧化。
做好當天氧化記錄,包括產(chǎn)品型號、數(shù)量、氧化時間、電流、電壓等,并于當班下班前交班組長。生產(chǎn)中必須保證導(dǎo)電極桿和電接頭光潔干燥,確保導(dǎo)電性能良好。
