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UV-PLUS光學系統(tǒng):SPECTROLAB的光學系統(tǒng)集合了兩種檢測器的優(yōu)勢:光電倍增管和CCD檢測器。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構,直讀式光譜儀的原理,光學系統(tǒng)的機械結構異常堅固,直讀式光譜儀,同時減少了內(nèi)部空間體積。內(nèi)部恒溫、恒壓確保光學系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。UV-PLUS技術用于保障遠紫外光譜范圍的測量。密封光室內(nèi)部在儀器出廠前充入高純氣,保證遠紫外光譜的透過率。光室內(nèi)的氣由分子薄膜泵驅(qū)動循環(huán)至凈化裝置,以保證內(nèi)部氣的高純度。

1882年,羅蘭發(fā)明了凹面光柵,直讀式光譜儀的應用,即是把劃痕直接刻在凹球面上。凹面光柵實際上是光學儀器成象系統(tǒng)元件的合為一體的高元件,它解決了當時棱鏡光譜儀所遇到的不可克服的困難。凹面光柵的問世不僅簡化了光譜儀器的結構,而且還提高了它的性能。
國產(chǎn)直讀光譜分析儀器波耳的理論在光譜分析中起了作用,直讀式光譜儀的結構,其對光譜的激發(fā)過程、光譜線強度等提出比較滿意的解釋。從測定光譜線的絕強度轉(zhuǎn)到測量譜線的相對強度的應用,使光譜分析方法從定性分析發(fā)展到定量分析創(chuàng)造基礎。從而使光譜分析方法逐漸走出實驗室,在工業(yè)部門中得到廣泛應用。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制
牛津儀器工業(yè)分析部(Oxford Instruments IndustrialAnalysis)牛津儀器工業(yè)分析部提供多系列分析工具滿足各個行業(yè)嚴格的質(zhì)量控制要求。憑借30多年的XRF技術經(jīng)驗,牛津儀器的分析系統(tǒng)可以實現(xiàn)各種材料(固體、液體、粉末、糊狀物、油脂、薄膜等)中元素組成的快速、無損檢測,同時也可實現(xiàn)樣品表面涂鍍層厚度或組成分析。X-MET手持式XRF分析儀和移動式直讀光譜儀OES是對現(xiàn)場合金分類及PMI測試、ROHS中有害元素的檢測、質(zhì)量控制尤為重要的工具。我們的OES設備包括:ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TESTMASTER。Lab-X、Twin-X、ED2000及MDX1000各種XRF光譜儀應用于各種不同領域產(chǎn)品的日常分析,如石油產(chǎn)品的硫含量的分析、水泥中鈣含量的分析。我們能提供多款性能可靠的光譜儀供您選擇以滿足您的分析需求。

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