供應(yīng)37DLPLUS超聲測(cè)厚儀
珠海市超聲測(cè)厚儀廠家
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腐蝕層超聲測(cè)厚儀的詳細(xì)介紹
特點(diǎn)：
• 新增溫度補(bǔ)償功能，補(bǔ)償了材料隨溫度變化而引起的聲速變化。
• 新增氧化皮/沉積物測(cè)量功能（選擇項(xiàng)），測(cè)量和顯示鋼基底厚度和氧化皮沉積物的厚度。
• 新增平均值/最小值模式，保存幾個(gè)相繼測(cè)量值的平均值或最小值。
• 新的A掃描顯示，更好的對(duì)比度和可見(jiàn)性，顯示更加清晰。
• 新增的使用不同排列方式的單晶片和雙晶片接觸式、延遲式或水浸式探頭。
• 使用EMAT探頭，透皮對(duì)鋼表面無(wú)耦合劑的厚度測(cè)量。
• 基于文件的字母數(shù)字的存儲(chǔ)器，可以使用更長(zhǎng)的文件名 (最多32字符) 和ID號(hào) (最多20字符) 。
• 改善：存儲(chǔ)在B掃描中的每個(gè)厚度讀數(shù)可以在WIN37DL PLUS界面程序和測(cè)量?jī)x上瀏覽。
• 改善： 選擇查看柵格結(jié)點(diǎn)標(biāo)記 (最小/，報(bào)警方式或A掃描) 。
• 網(wǎng)格文件可以通過(guò)增加行、列或改變?cè)隽糠较蜻M(jìn)行擴(kuò)展。
新型探頭
37DLPLUS腐蝕層超聲測(cè)厚儀可以使用不同排列方式的雙晶片和單晶片探頭。探頭自動(dòng)識(shí)別功能，可對(duì)按線型排列的每個(gè)D790系列雙晶片探頭進(jìn)行識(shí)別，從而得到測(cè)量結(jié)果。37DL PLUS還可使用電磁超聲探頭E110-SB EMAT，透皮對(duì)鋼表面無(wú)耦合劑的厚度測(cè)量。M2017和M2091探頭最適合于對(duì)鍋爐管道內(nèi)壁氧化沉積物的測(cè)量。37DL PLUS 與Panametrics-NDT的頻率范圍從2到30兆赫的Microscan探頭系列兼容，包括：?jiǎn)尉佑|式、延遲線式和水浸式探頭。此外，該測(cè)量?jī)x亦可用于非腐蝕材料諸如塑料、玻璃纖維、復(fù)合材料、橡膠、鑄件、橡膠和玻璃的測(cè)量應(yīng)用。應(yīng)用自動(dòng)調(diào)用功能，可從其存儲(chǔ)器中自動(dòng)調(diào)用16個(gè)缺省的和 10個(gè)Microscan探頭設(shè)置。 透過(guò)涂層技術(shù)
37DL PLUS腐蝕層超聲測(cè)厚儀用單一的背反射回波，自動(dòng)計(jì)算和顯示涂層厚度 (0.019英寸) 和金屬厚度 (0.284英寸) 。
材料溫度的變化，引起聲波在其中傳播速度的變化，進(jìn)而影響測(cè)量的精度。溫度補(bǔ)償功能允許用戶輸入校準(zhǔn)塊的溫度值，并且手動(dòng)或自動(dòng)輸入測(cè)量點(diǎn)當(dāng)前(高)溫度。37DL PLUS將顯示在校正溫度下的厚度值，并將其存入內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器。
校準(zhǔn)溫度與材料本身溫度差值為932°F， 0.376英寸的厚度讀數(shù)，將可補(bǔ)償材料聲速的變化。
改善的柵格視圖特點(diǎn)允許用戶對(duì)應(yīng)每個(gè)柵格點(diǎn)選擇查看最小/值、報(bào)警或者A掃描的標(biāo)記。 這允許用戶通過(guò)文件迅速掃描和找出最小/值、報(bào)警或者A掃描的位置。
標(biāo)記清晰地表明(H)高值報(bào)警和(L) 低值報(bào)警的厚度測(cè)量值。
這一新增可選項(xiàng)，使用的算法測(cè)量鍋爐管道內(nèi)壁氧化皮或沉積物的厚度。測(cè)量?jī)x同時(shí)顯示鍋爐管道的金屬基底厚度和氧化皮的厚度，從而有助于管道壽命的預(yù)測(cè)。此項(xiàng)應(yīng)用，我們推薦使用M2017或M2091探頭。
37DLPLUS腐蝕層超聲測(cè)厚儀的技術(shù)指標(biāo)：
| 雙晶片測(cè)量方式：從激勵(lì)脈沖到個(gè)回波之間的延時(shí) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 透過(guò)涂層測(cè)量：利用一次背反射回波（使用D7906-SM 和 D7908 探頭），測(cè)量涂層厚度和真實(shí)金屬厚度。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 透過(guò)漆層回波對(duì)回波：漆層或涂層，在兩個(gè)連續(xù)背反射回波之間的時(shí)間間隔。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 單晶片測(cè)量模式： 模式1：測(cè)量激勵(lì)脈沖和個(gè)背反射回波之間的時(shí)間間隔。 模式2：測(cè)量在激勵(lì)脈沖之后的個(gè)界面回波與個(gè)背反射回波之間的時(shí)間間隔。使用延遲線或水浸式探頭。 模式3：測(cè)量在激勵(lì)脈沖之后，位于個(gè)界面回波之后的相鄰背反射回波之間的時(shí)間間隔。使用延遲線或水 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 浸式探頭 氧化皮/沉積物測(cè)量功能（選擇項(xiàng)）：測(cè)量金屬基底厚度和管子內(nèi)壁氧化皮沉積物的厚度。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 氧化皮沉積物的厚度范圍： M2017: 0.010 - 0.050英寸 (0.25 - 1.25 毫米) M2091: 0.006 - 0.050英寸 (0.15 - 1.25 毫米) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 厚度范圍：: 0.003 - 25.000 英寸 (0.080 - 635.00毫米), 取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置選擇。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料速度速率范圍: 0.020 - 0.551 英寸/微秒 (0.508 - 13.998 毫米/微秒)
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￥300.00
珠海天創(chuàng)儀器有限公司
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