數(shù)字ic與fpga-鹽田區(qū)數(shù)字ic-數(shù)字Ic電子驅(qū)動ic

集成電路規(guī)模的飛速增長，使得集成電路功能復雜度日益提升，一方面為信息技術產(chǎn)業(yè)帶來了生機和活力，另一方面也產(chǎn)生了許多問題和挑戰(zhàn)。集成電路的功能正確性是這些問題和挑戰(zhàn)中的首要考慮因素，必須引起我們足夠的重視。傳統(tǒng)的功能驗證主要通過驗證工程師手工編寫測試激勵來進行，驗證效率較為低下。

隨著技術的發(fā)展，OVM、UVM等的驗證方法被成功引入，擴充了驗證技術庫。但這些驗證方法主要基于信號層級或事務層級來進行，并沒有從更高層次的功能點角度去考慮驗證問題。功能點的標準化概括、提取和層次分解仍然存在不足，而且測試激勵需要人為去進行封裝和組織，一定程度加大了驗證平臺搭建難度。為了彌補驗證技術上在功能建模和激勵自動生成上的缺陷，從不同角度去探究新的驗證方法，數(shù)字ic與fpga，課題組開展了相應的研究工作。

研究工作和技術進步主要包括以下幾點:1、基于集成電路功能特點以及對功能規(guī)范的分析，針對集成電路功能驗證需求，課題組共同創(chuàng)建了基于功能規(guī)范的功能模型F-M；針對該功能模型，開發(fā)出一套功能模型描述語言，并定義相應語法規(guī)則，用以描述數(shù)字系統(tǒng)、IP核等模塊的功能行為。2、利用語言C/C++編寫出解析編譯器P-C，鹽田區(qū)數(shù)字ic，對上述功能模型語言進行解析，自動生成激勵生成器和斷言檢測器，構建出SystemVerilog驗證平臺，自動產(chǎn)生測試激勵。

數(shù)字電子技術是普通高校電子類相關專業(yè)的必修課程，主要包含組合邏輯電路和時序邏輯電路兩部分內(nèi)容及其應用。數(shù)字電子技術又是一門實踐性很強的課程，需要學生動手做實驗來加深對數(shù)字邏輯芯片工作原理的理解。數(shù)字電路實驗離不開數(shù)字邏輯芯片，很多高校每年都會采購一批數(shù)字邏輯芯片，數(shù)字ic視頻教程，芯片復用率很低，造成了數(shù)字邏輯芯片的嚴重浪費。

數(shù)字電路實驗會使用到許多不同類型的數(shù)字邏輯芯片。由于儲存方法不當、實驗平臺不完善、學生不規(guī)范操作等原因，數(shù)字邏輯芯片經(jīng)常發(fā)生損壞。由于其故障類型多樣、檢測過程繁瑣，因此實驗室管理人員難以及時排查故障芯片。本文基于芯片ESD保護原理、故障字典法研究設計了一種數(shù)字邏輯芯片自動化檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)可檢測數(shù)字邏輯芯片是否有短路、斷路和邏輯功能錯誤等故障，并可確定具體的故障引腳位置，通過LCD液晶屏或上位機將檢測結果展示給用戶。經(jīng)過實際的試驗和數(shù)據(jù)分析可以得出:該檢測系統(tǒng)可以較好地檢測數(shù)字邏輯芯片故障，單枚芯片檢測時間大約為3秒，且檢測準確率高達99.4%、運行功耗低至0.44W。非常適合在開設數(shù)字電子技術課程的高校中推廣應用，同時也可用于芯片制造公司的成品檢測。

IC設計方案行業(yè)的盆友都了解，數(shù)字集成電路所追求的并并不是加工工藝連接點。只是加工工藝，設計方案，板圖，實體模型，封*這些全部全產(chǎn)業(yè)鏈上邊每個一部分的融合。而數(shù)字電路設計所追求的大量的則是系統(tǒng)架構圖，優(yōu)化算法的提升，針對加工工藝則是無止盡的追求圖形界限少，數(shù)字ic還是嵌入式，功能損耗少，傳送延遲時間少。

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