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元件及焊點無不良傾向,但由于DFM設(shè)計時未考慮AOI的可測性,而造成AOI判定良與否有一定的難度,為保證檢出效果,將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計的過窄或過短,AOI進行檢測時較難進行很準(zhǔn)確的判定,此類情況所造成的誤判較難,除非改進 DFM或放棄此類元件的焊點不良檢測。彤光的科學(xué)技術(shù)水平實力還是比較強勁的,采用的缺陷檢測技術(shù)也是國內(nèi)外較高水平,擁有很多成功的案例,您要是不放心的話可以聯(lián)系我們,我們把案例發(fā)給您看一下,您再進行抉擇。

每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運用適當(dāng) 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當(dāng)一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經(jīng)驗和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計來預(yù)防甚至減少的。彤光堅持以客戶服務(wù)至上的原則,提供、專門、周到的服務(wù)和缺陷檢測服務(wù),您要是需要缺陷檢測的話,可以聯(lián)系我們,我們會以周到的服務(wù)讓您滿意。

QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的,而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的。因此,QFN的 焊盤設(shè)計建議為:焊盤伸出于器件引腳的外端, 而縮進于器件的內(nèi) 端,這樣使得在器件引腳的內(nèi)外形成彎月型焊盤。在這里 很重要的一點是,在進行設(shè)計計算時必須考慮器件的公差范圍。彤光擁有一批長期致力于加工缺陷檢測的專門人員,的生產(chǎn)能力及務(wù)實的現(xiàn)代企業(yè)管理理念是公司發(fā)展堅強后盾,我們專門進行缺陷檢測,質(zhì)量方面的問題您大可以放心。

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工業(yè)視覺缺陷檢測
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