天津生物樣品電鏡分析-九鼎(推薦商家)

掃描電鏡 電子探針顯微分析儀基本原理

電子探針(EPMA)：它是在電子光學(xué)和 X 射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種、綜合分析的儀器。

功能：在觀察微觀形貌的同時，進行微區(qū)成分分析。

原理：是用細聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征 X射線，①分析特征 X 射線的波長（或特征能量），可對樣品中所含元素的種類進行定性分析；②分析 X 射線的強度，則可對應(yīng)元素含量進行定量分析。

構(gòu)造：主機部分與 SEM 相同，天津生物樣品電鏡分析，只增加了檢測X射線的信號的譜儀，用于檢測X射線的特征波長或特征能量。

掃描電鏡成像原理及信號及應(yīng)用

(1)表面形貌襯度原理：利用二次電子特性進行成像，二次電子數(shù)量和原子序數(shù)無明顯的關(guān)系，但對微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。

被入射電子束激發(fā)出的二次電子數(shù)量和原子序數(shù)沒有明顯的關(guān)系，但是二次電子對微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。上圖說明了樣品表面和電子束相對位置與二次電子產(chǎn)額之間的關(guān)系。入射束與樣品表面法線相平行時，即圖中a），二次電子的產(chǎn)額少。若樣品傾斜了45度，則電子束穿入樣品激發(fā)二次電子的有效深度增加了1.414倍，入射電子激發(fā)表面的二次電子數(shù)量增多（黑域）。同理，樣品傾斜了60度，則有效深度增加了2倍，產(chǎn)生的二次電子數(shù)量進一步增加。

掃描電鏡的介紹 EPMA和SEM都是用聚焦得很細的電子束照射被檢測的試樣表面，用X 射線能譜儀或波譜儀，測量電子與試樣相互作用所產(chǎn)生的特征X 射線的波長與強度， 從而對微小區(qū)域所含元素進行定性或定量分析，并可以用二次電子或背散射電子等信息進行形貌觀察?！　PMA和SEM是現(xiàn)代固體材料顯微分析(微區(qū)成份、 形貌和結(jié)構(gòu)分析)的有用儀器，應(yīng)用十分廣泛。電子探針和掃描電鏡都是用計算機控制分析過程和進行數(shù)據(jù)處理，并可進行彩像處理和圖像分析工作，所以是一種現(xiàn)代化的大型綜合分析儀。據(jù)2003 年不完全統(tǒng)計，國內(nèi)各種型號的電子探針和掃描電鏡超過2000 臺，分布在各個領(lǐng)域。