掃描電鏡測(cè)試中心-掃描電鏡測(cè)試-九鼎(查看)

掃描電子顯微鏡（SEM）有什么優(yōu)點(diǎn)？

掃描電子顯微鏡（SEM）之所以如此強(qiáng)大，首先是他成像清晰，放大倍數(shù)超乎想象，可以達(dá)到幾十萬倍。它遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了光學(xué)顯微鏡的范圍。 幾乎它的出現(xiàn)，可以說是讓研究進(jìn)入了一個(gè)全新的境界。大景深。除成像外，還可以增加其他設(shè)備進(jìn)行更細(xì)致的分析和多樣化的功能。例如，SEM-EDS是一種掃描電子顯微鏡，配備有微量分析能譜儀，用于檢測(cè)元素的總種類和含量。這里是普及一下景深的概念，在寫的過程中也是理解的。簡(jiǎn)單的說，比如我們用手機(jī)拍照的時(shí)候?qū)乖谝粋€(gè)物體上，掃描電鏡測(cè)試機(jī)構(gòu)，可以清楚的看到這個(gè)點(diǎn)的內(nèi)容，而且在這個(gè)點(diǎn)前后一定范圍內(nèi)，不嚴(yán)重模糊，可以清楚看到的范圍稱為景深

掃描電子顯微鏡的基本原理

掃描電鏡成像過程與電視成像過程有很多相似之處， 而與透射電鏡的成像原理完全不同。透射電鏡是利用成像電磁透鏡一次成像， 而掃描電鏡的成像則不需要成象透鏡， 其圖象是按一定時(shí)間、空間順序逐點(diǎn)形成并在鏡體外顯像管上顯示

二次電子成象是使用掃描電鏡所獲得的各種圖象中應(yīng)用比較廣泛的，掃描電鏡測(cè)試， 分辨本領(lǐng)也很高的一種圖象。我們以二次電子成象為例來說明掃描電鏡成象的原理。

由電子發(fā)射的電子束高可達(dá)30keV， 經(jīng)會(huì)聚透鏡、物鏡縮小和聚焦，掃描電鏡測(cè)試中心， 在樣品表面形成一個(gè)具有一定能量、強(qiáng)度、斑點(diǎn)直徑的電子束。在掃描線圈的磁場(chǎng)作用下， 入射電子束在樣品表面上按照一定的空間和時(shí)間順序做光柵式逐點(diǎn)掃描。由于入射電子與樣品之間的相互作用， 將從樣品中激發(fā)出二次電子。由于二次電子收集極的作用， 可將各個(gè)方向發(fā)射的二級(jí)電子匯集起來， 再將加速極加速射到閃爍體上， 轉(zhuǎn)變成光信號(hào)， 經(jīng)過光導(dǎo)管到達(dá)光電倍增管， 使光信號(hào)再轉(zhuǎn)變成電信號(hào)。這個(gè)電信號(hào)又經(jīng)視頻放大器放大并將其輸送至顯像管的柵極， 調(diào)制顯像管的亮度。因而， 再熒光屏上呈現(xiàn)一幅亮暗程度不同的、反映樣品表面形貌的二次電子象。

臺(tái)式掃描電鏡連續(xù)觀察

　　臺(tái)式掃描電鏡對(duì)于從高功率到低功率的連續(xù)觀測(cè)，放大倍數(shù)的變化范圍非常大，掃描電鏡測(cè)試公司，并且不經(jīng)常需要焦點(diǎn)掃描電鏡放大倍數(shù)范圍廣（連續(xù)可調(diào)5-20萬倍），一次聚焦后可連續(xù)觀察從高到低、從低到高，無需再聚焦，特別便于事故分析。

　　臺(tái)式掃描電鏡觀察生物試樣

　　因電子照射而發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小。掃描電鏡同其他方式的電子顯微鏡比較，由于用于觀察的電子探針電流小，電子探針的束斑尺寸?。ㄍǔ?nm到幾十納米），電子探針的能量也?。铀匐妷嚎梢孕〉?KV）此外，它不會(huì)在固定處照射樣品，而是通過光柵掃描照射樣品因此，對(duì)一些生物樣品進(jìn)行觀察是非常重要的，因?yàn)闃悠返膿p傷和污染程度都很小。