掃描電鏡測試-九鼎-掃描電鏡測試報價

掃描電鏡(SEM)測試常見問題

水溶液中的納米粒子如何做透射電鏡TEM？

透射電鏡樣品一定要在高真空中下檢測，水溶液中的納米粒子不能直接測。一般用一個微柵或銅網(wǎng)，把樣品撈起來，然后放在樣品預(yù)抽器中，烘干即可放入電鏡里面測試。 如果樣品的尺寸很小，只有幾個納米，選用無孔的碳膜來撈樣品即可。

粉末狀樣品怎么做透射電鏡TEM？

掃描電鏡測試中粉末樣品的制備多采用雙面膠干法制樣，和選用合適的溶液超聲波濕法制樣。分散劑在掃描電鏡的樣品制備中效果并不明顯，有時會帶來相反的作用，如干燥時析晶等。

EDS與XPS測試時采樣深度的差別？

XPS采樣深度為2-5nm，我想知道EDS采樣深度大約1um、

臺式掃描電鏡觀察厚試樣

　　臺式掃描電鏡可以獲得高分辨率和真實的厚樣品形貌掃描電子顯微鏡的分辨率介于光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡之間，但在比較厚樣品的觀察時，由于透射電子顯微鏡也采用層壓法，層壓的分辨率通常只有10nm，而且觀察的不是樣品本身。因此，用掃描電鏡觀察厚樣品，獲得樣品的真實表面數(shù)據(jù)更為有利。

　　臺式掃描電鏡觀察試樣區(qū)域細(xì)節(jié)

　　試樣在樣品室中可動的范圍非常大，而顯微鏡在其它方面的工作距離通常只有2-3cm，因此實際上，只有試樣可以在二維空間中移動，掃描電鏡測試機構(gòu)，但在臺式掃描電子顯微鏡中是不同的由于工作距離大（可能大于20 mm）焦深大（比TEM大10倍）樣品室的空間也很大因此，試樣在三維空間（即三維平移、三維旋轉(zhuǎn)）可以有六個自由度的運動而且具有較大的活動范圍，便于觀察不規(guī)則形狀樣品的各個區(qū)域。

　　ZEM臺式掃描電鏡對樣品的要求

　　1、樣品是無毒、無性的物質(zhì);

　2、樣品可以是塊狀、片狀、纖維狀，也可以是顆粒或粉末狀，無論是什么樣的樣品都不能是有機揮發(fā)物和含有水分，如果將含有水分的樣品放在鏡筒內(nèi)能產(chǎn)生2種嚴(yán)重不良后果：一是當(dāng)真空達(dá)不到要求強行通高壓時，其產(chǎn)生的水蒸汽遭遇高能電子生電離而放電引起束流大幅度波動，掃描電鏡測試中心，使所成的像模糊，或根本不能成像；二是造成鏡筒污染；三是損壞燈絲，當(dāng)高能電壓通過燈絲時，溫度高達(dá)2000Ο，碰到水蒸汽而氧化變質(zhì)或熔斷，掃描電鏡測試，因此，應(yīng)先烘干樣品中的水分；

　3、無論是塊狀樣品，還是粉末顆粒狀樣品，其化學(xué)、物理性質(zhì)要穩(wěn)定，在高真空中的電子束照射下，都要能保持成分穩(wěn)定和形態(tài)不變；

　　4、表面受到污染的樣品，要在不破壞樣品表面結(jié)構(gòu)的前提下，進(jìn)行適當(dāng)清洗、烘干；

　　5、無論是樣品的表面，還是樣品新斷開的斷口或斷面，一般不需要進(jìn)行處理，以保持全自動掃描電子顯微鏡原始的結(jié)構(gòu)狀態(tài)；