天津環(huán)境場(chǎng)掃描電鏡測(cè)試-天津市9d實(shí)驗(yàn)室

掃描電子顯微鏡應(yīng)用

微觀結(jié)構(gòu)分析

在陶瓷的制備過程中，原始材料及其制品的微觀形貌、孔徑、晶界和團(tuán)聚程度將決定其性能。掃描電子顯微鏡可以清楚地反映和記錄這些微觀特征。是一種方便、簡(jiǎn)便、有效的觀察和分析樣品微觀結(jié)構(gòu)的方法。樣品無需制備，放入樣品室即可直接放大觀察；同時(shí)，掃描電子顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試。對(duì)于樣品從低倍到高倍的定位和分析，樣品室中的樣品不僅可以沿三維空間移動(dòng)，還可以根據(jù)觀察需要在空間中旋轉(zhuǎn)，便于連續(xù)、系統(tǒng)地進(jìn)行用戶對(duì)感興趣的部分進(jìn)行觀察和分析。掃描電鏡拍攝的圖像真實(shí)、清晰、立體感十足，天津環(huán)境場(chǎng)掃描電鏡測(cè)試，已廣泛應(yīng)用于新型陶瓷材料三維微觀結(jié)構(gòu)的觀察和研究。

由于掃描電鏡可以利用多種物理信號(hào)對(duì)樣品進(jìn)行綜合分析，并具有直接觀察較大樣品、放大范圍廣、景深大的特點(diǎn)，當(dāng)陶瓷材料處于不同的外部條件和化學(xué)環(huán)境時(shí)，掃描電子顯微鏡在其微觀結(jié)構(gòu)分析和研究方面也顯示出很大的優(yōu)勢(shì)。

掃描電子顯微鏡SEM

掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品， 通過光束與物質(zhì)間的相互作用， 來激發(fā)各種物理信息， 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大， 視野大， 成像立體效果好。此外， 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合， 可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用

掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理

臺(tái)式掃描電鏡與傳統(tǒng)的大型掃描電子顯微鏡相比，臺(tái)式掃描電子顯微鏡具有體積小、操作簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉、抽真空速度快等優(yōu)點(diǎn)。臺(tái)式掃描電子顯微鏡的分辨率可以滿足大多數(shù)材料的顯微觀察。臺(tái)式掃描電鏡填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電鏡之間的分辨率的空白，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米粒子、生物醫(yī)學(xué)、食品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。接下來澤攸小編將主要介紹一下掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理。

掃描電子顯微鏡是檢測(cè)樣品表面形貌的大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時(shí)，電子與元素核和外層電子發(fā)生一次或多次彈性和非彈性碰撞。一些電子被樣品表面反射，而其余電子則穿透樣品，逐漸失去動(dòng)能，在Z后停止運(yùn)動(dòng)，被樣品吸收。在這個(gè)過程中，99%以上的入射電子能量轉(zhuǎn)化為樣品熱能，剩余約1%的入射電子能量激發(fā)樣品的各種信號(hào)。如圖1所示，這些信號(hào)主要包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動(dòng)勢(shì)、陰極發(fā)光、X射線等。掃描電子顯微鏡設(shè)備使用這些信號(hào)來獲取信息來分析樣品。