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臺(tái)式掃描電鏡觀察材料斷口
臺(tái)式掃描電鏡的另一個(gè)重要特點(diǎn)是景深大,圖像立體掃描電鏡的透射電鏡是光學(xué)顯微鏡的10倍由于圖像景深較大,獲得的掃描電子圖像具有三維感強(qiáng)、形狀三維等特點(diǎn),比其他顯微鏡能提供更多的信息,對(duì)用戶有很大的價(jià)值掃描電鏡所表明斷裂形態(tài)從深層和高景深的角度反映了材料斷裂的性質(zhì),在教學(xué)科研和生產(chǎn)中具有的作用,是材料斷裂原因分析、事故原因分析、工藝合理性確定等方面的有力工具。
臺(tái)式掃描電鏡觀察大試樣的原始表面
臺(tái)式掃描電子顯微鏡可以直接觀察直徑為100毫米、高度為50毫米或更大尺寸的樣品,不受樣品形狀的限制,也可以觀察到粗糙的表面,避免了樣品制備的麻煩并能真實(shí)觀察樣品本身不同物質(zhì)成分的對(duì)比度。

掃描電鏡(SEM)測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題
1、做透射電鏡TEM測(cè)試時(shí)樣品的厚度Z厚是多少?
透射電鏡TEM的樣品厚度Z好小于100nm,太厚了電子束不易透過(guò),分析效果不好。
2、請(qǐng)問(wèn)樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在掃描電鏡SEM圖片上有各有什么明顯的特征?
在掃描電鏡SEM圖片中,沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開(kāi),且晶粒晶界明顯;穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中展開(kāi),晶粒晶界都較模糊。
3、做透射電鏡TEM測(cè)試時(shí)樣品有什么要求?
很簡(jiǎn)單,只要不含水分就行。如果樣品為溶液,則樣品需要滴在一定的基板上(如玻璃),然后干燥,再噴碳就可以了。如果樣品本身導(dǎo)電就無(wú)需噴碳。

為什么臺(tái)式掃描電鏡這么受歡迎?
首先臺(tái)式掃描電鏡體積小,操作簡(jiǎn)單,分辨率高,成像快,占空間小,方便移動(dòng),臺(tái)式掃描電鏡就像電腦主機(jī)一樣大小,也被稱為桌面掃描電鏡。很多的學(xué)校的電鏡中心都是大電鏡,大電鏡確實(shí)也有大電鏡的好處,但是大電鏡使用起來(lái)沒(méi)有臺(tái)式掃描電鏡方便,主要大電鏡還占地方,使用起來(lái)打個(gè)申請(qǐng),天津金屬樣品電鏡分析,不知道何時(shí)能論到自己,然而臺(tái)式掃描電鏡就不同了,臺(tái)式掃描電鏡可以多備幾臺(tái),使用方便,更便于管理。
所以這就是為什么科研單位或是學(xué)校都喜歡采購(gòu)臺(tái)式掃描電鏡的原因,臺(tái)式掃描電鏡,也能滿足測(cè)量需求。


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