環(huán)境場(chǎng)掃描電鏡測(cè)試中心-9d實(shí)驗(yàn)室樣品測(cè)試

掃描電鏡圖片如何分析

1、掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子像和背散射電子像，環(huán)境場(chǎng)掃描電鏡測(cè)試費(fèi)用，主要用于表面微觀形貌觀察或者表面元素分布觀察。

一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情況需要對(duì)比分析。

背散射電子像主要反映樣品表面元素分布情況，越亮的區(qū)域，原子序數(shù)越高。

2、看表面形貌，電子成像，亮的區(qū)域高，暗的區(qū)域低。非常薄的薄膜，背散射電子會(huì)造成假像。導(dǎo)電性差時(shí)，環(huán)境場(chǎng)掃描電鏡測(cè)試價(jià)格，電子積聚也會(huì)造成假像。

掃描電子顯微鏡是一種利用高能聚焦電子束掃描樣品表面，從而獲得樣品信息的電子顯微鏡。所以其使用電子束為照明源，電子束在樣品表面掃描，利用電子和物質(zhì)作用所產(chǎn)生的信息結(jié)合電子光學(xué)原理進(jìn)行成像。判斷掃描電鏡性能主要依據(jù)分辨率和有效放大倍數(shù)。分辨率即能夠分辨的小距離。

電子光學(xué)系統(tǒng)主要是給掃描電鏡提供一定能量可控的并且有足夠強(qiáng)度的、束斑大小可調(diào)節(jié)的、掃描范圍可根據(jù)需要選擇的、形狀對(duì)稱的、穩(wěn)定的電子束[1]。主要由4 部分組成：電子、電磁透鏡、物鏡光闌、掃描線圈。

掃描電鏡(SEM)測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題

1、做透射電鏡TEM測(cè)試時(shí)樣品的厚度Z厚是多少?

透射電鏡TEM的樣品厚度Z好小于100nm，太厚了電子束不易透過(guò)，分析效果不好。

2、請(qǐng)問(wèn)樣品的的穿晶斷裂和沿晶斷裂在掃描電鏡SEM圖片上有各有什么明顯的特征？

在掃描電鏡SEM圖片中，湛江環(huán)境場(chǎng)掃描電鏡測(cè)試，沿晶斷裂可以清楚地看到裂紋是沿著晶界展開(kāi)，且晶粒晶界明顯；穿晶斷裂則是裂紋在晶粒中展開(kāi)，晶粒晶界都較模糊。

3、做透射電鏡TEM測(cè)試時(shí)樣品有什么要求？

很簡(jiǎn)單，只要不含水分就行。如果樣品為溶液，則樣品需要滴在一定的基板上（如玻璃），然后干燥，再噴碳就可以了。如果樣品本身導(dǎo)電就無(wú)需噴碳。