ICT測試-億昇精密

? 單片機(jī)功能測試治具主要有以下部分：

? ? ? 1， 測試夾具，把產(chǎn)品的輸入，輸出接口引伸出來。

? ? ? 2，ICT測試，MCU控制板：整個測試流程及測試值的判斷。輸入及輸出的控制。顯示控制

? ? ? 3，信號源板：提供測試時需要的各種信號源

? ? ? 4，繼電器板：切換各種輸入，輸出

? ? ? 5，量測板：產(chǎn)品輸出部分的量測，判斷好否

? ? ? 6。顯示模塊：顯示測試結(jié)果及顯示測試狀態(tài)，一般為LCD及數(shù)碼管

? ?特點(diǎn)：單片機(jī)功能測試價格適中，測試，測試品質(zhì)好，人為介入少。但通用性不強(qiáng)，一般只能一個機(jī)種配一個夾具

　ICT在線測試儀它指的是對測試目標(biāo)板(UUT：Unit Under Test)提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵和負(fù)載)，使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取到各個狀態(tài)的參數(shù)來驗(yàn)證UUT的功能好壞的測試方法。

具有IC Open TestJet測試功能，可檢測貼片IC腳空焊問題。　應(yīng)用IC Clamping Diode及模擬反向測量技術(shù)，更確實(shí)檢測IC反裝問題。　具備電容漏電流極性測試和三點(diǎn)極性測試；具有1MHz信號源，可準(zhǔn)確量測小電容小電感。

ICT測試儀要求每一個電路節(jié)點(diǎn)至少有一個測試點(diǎn)。但隨著器件集成度增加，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增加；同時為開發(fā)一個功能強(qiáng)大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。

EA—2在線測試設(shè)備為上下兩層可同時在線測試設(shè)備，主要由左右升降部分與上下測試部分而成。當(dāng)需要提高生產(chǎn)效率單層測試時間需要很長時，可使用雙層測試來實(shí)現(xiàn)，可提高生產(chǎn)率，降低等待測試時間。